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一种小天体表面岩石检测方法
摘要文本
本发明公开了一种小天体表面岩石检测方法,包括:构建小天体表面岩石检测基准数据库;将小天体表面岩石检测数据库中的图片缩放到预设规格后送入骨干网络中提取各级特征,并在骨干网络的最后经过多头自注意力模块MHSA增强小天体特征图中的岩石特征后经SPPF操作得到小天体表面图片特征图;将小天体表面特征图输入到网络的Neck网络,通过Neck网络增加的小目标检测层,在低层特征图中融合高层语义特征,在高层特征图中融合低层位置信息和纹理特征,将得到的各层特征图进行多尺度融合后得到多尺度待检测小天体表面特征图;将多尺度待检测小天体表面图片特征图送入检测头detect中,预测图中岩石的位置坐标和置信度。本发明较现有技术识别准确率和召回率高,从而能够更好的完成小天体岩石检测任务。
申请人信息
- 申请人:昆明理工大学
- 申请人地址:650031 云南省昆明市一二一大街文昌路68号
- 发明人: 昆明理工大学
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种小天体表面岩石检测方法 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410085265.X |
| 申请日 | 2024/1/21 |
| 公告号 | CN117830813A |
| 公开日 | 2024/4/5 |
| IPC主分类号 | G06V20/00 |
| 权利人 | 昆明理工大学 |
| 发明人 | 王彬; 冯哲; 黄鹏程; 米布武 |
| 地址 | 云南省昆明市一二一大街文昌路68号 |
专利主权项内容
1.一种小天体表面岩石检测方法,其特征在于,包括:S1、构建小天体表面岩石检测基准数据库;S2、将S1中构建好的小天体表面岩石检测数据库中的图片缩放到预设规格后送入骨干网络中提取各级特征,并在骨干网络的最后经过多头自注意力模块MHSA增强小天体特征图中的岩石特征后经SPPF操作得到小天体表面图片特征图;S3、将S2中输出的小天体表面特征图输入到网络的Neck网络,通过Neck网络增加的小目标检测层,在低层特征图中融合高层语义特征,在高层特征图中融合低层位置信息和纹理特征,将S2中得到的各层特征图进行多尺度融合后得到多尺度待检测小天体表面特征图;S4、将S3得到的多尺度待检测小天体表面图片特征图送入检测头detect中,预测图中岩石的位置坐标和置信度。