← 返回列表
畴外延生长γ-CuI薄膜的方法及γ-CuI薄膜
摘要文本
本发明公开了一种畴外延生长γ‑CuI薄膜的方法及γ‑CuI薄膜,方法包括根据畴外延理论中的旋转畴匹配模型,结合γ‑CuI晶向的旋转对称性,确定单晶衬底;利用物理气相传输法,以γ‑CuI粉末作蒸发材料,在单晶衬底上生长γ‑CuI薄膜。本发明可保证γ‑CuI薄膜在根据旋转畴匹配模型和γ‑CuI晶向旋转对称性确定的单晶衬底上连续生长,且可减少晶界和晶格缺陷对载流子的散射作用,提高载流子迁移率。由于旋转畴在厚度方向上为单晶,对于以旋转畴外延生长的γ‑CuI基p‑n结,其整流特性会得到显著改善。本发明所用物理气相传输法可在双温区管式炉中实现,设备价格低廉、操作简单,适合工业化生产。
申请人信息
- 申请人:内蒙古工业大学
- 申请人地址:010051 内蒙古自治区呼和浩特市新城区爱民街49号
- 发明人: 内蒙古工业大学
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 畴外延生长γ-CuI薄膜的方法及γ-CuI薄膜 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410218690.1 |
| 申请日 | 2024/2/28 |
| 公告号 | CN117802574A |
| 公开日 | 2024/4/2 |
| IPC主分类号 | C30B23/02 |
| 权利人 | 内蒙古工业大学 |
| 发明人 | 赵学平; 吴崇; 张海; 白朴存; 侯小虎; 崔晓明; 刘飞 |
| 地址 | 内蒙古自治区呼和浩特市新城区爱民街49号内蒙古工业大学 |
专利主权项内容
1.一种畴外延生长γ-CuI薄膜的方法,其特征在于,包括:根据畴外延理论中的旋转畴匹配模型,结合γ-CuI<111>晶向的旋转对称性,确定单晶衬底,所述单晶衬底为旋转对称性为2或6的透明单晶衬底;利用物理气相传输法,以γ-CuI粉末作蒸发材料,在所述单晶衬底上生长γ-CuI薄膜。