← 返回列表

畴外延生长γ-CuI薄膜的方法及γ-CuI薄膜

申请号: CN202410218690.1
申请人: 内蒙古工业大学
申请日期: 2024/2/28

摘要文本

本发明公开了一种畴外延生长γ‑CuI薄膜的方法及γ‑CuI薄膜,方法包括根据畴外延理论中的旋转畴匹配模型,结合γ‑CuI晶向的旋转对称性,确定单晶衬底;利用物理气相传输法,以γ‑CuI粉末作蒸发材料,在单晶衬底上生长γ‑CuI薄膜。本发明可保证γ‑CuI薄膜在根据旋转畴匹配模型和γ‑CuI晶向旋转对称性确定的单晶衬底上连续生长,且可减少晶界和晶格缺陷对载流子的散射作用,提高载流子迁移率。由于旋转畴在厚度方向上为单晶,对于以旋转畴外延生长的γ‑CuI基p‑n结,其整流特性会得到显著改善。本发明所用物理气相传输法可在双温区管式炉中实现,设备价格低廉、操作简单,适合工业化生产。

专利详细信息

项目 内容
专利名称 畴外延生长γ-CuI薄膜的方法及γ-CuI薄膜
专利类型 发明申请
申请号 CN202410218690.1
申请日 2024/2/28
公告号 CN117802574A
公开日 2024/4/2
IPC主分类号 C30B23/02
权利人 内蒙古工业大学
发明人 赵学平; 吴崇; 张海; 白朴存; 侯小虎; 崔晓明; 刘飞
地址 内蒙古自治区呼和浩特市新城区爱民街49号内蒙古工业大学

专利主权项内容

1.一种畴外延生长γ-CuI薄膜的方法,其特征在于,包括:根据畴外延理论中的旋转畴匹配模型,结合γ-CuI<111>晶向的旋转对称性,确定单晶衬底,所述单晶衬底为旋转对称性为2或6的透明单晶衬底;利用物理气相传输法,以γ-CuI粉末作蒸发材料,在所述单晶衬底上生长γ-CuI薄膜。