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测试用例生成、测试方法、装置、计算机设备及存储介质

申请号: CN202410135742.9
申请人: 北京纷扬科技有限责任公司
申请日期: 2024/1/31

摘要文本

本公开提供了一种测试用例生成、测试方法、装置、计算机设备及存储介质,其中,该测试用例生成方法包括:测试用例生成方法,其特征在于,包括:获取用户在访问目标服务时的服务请求信息,并基于所述服务请求信息,生成候选测试用例;对所述候选测试用例进行回放,并获取所述候选测试用例回放过程中,所述目标服务对所述候选测试用例进行响应的代码覆盖信息;所述代码覆盖信息用于描述所述目标服务响应所述候选测试用例过程中的代码执行情况;基于所述代码覆盖信息,从所述候选测试用例中筛选对待测试服务进行测试的目标测试用例;其中,所述待测试服务和所述目标服务属于相同服务的不同版本。

专利详细信息

项目 内容
专利名称 测试用例生成、测试方法、装置、计算机设备及存储介质
专利类型 发明申请
申请号 CN202410135742.9
申请日 2024/1/31
公告号 CN117667750A
公开日 2024/3/8
IPC主分类号 G06F11/36
权利人 北京纷扬科技有限责任公司
发明人 钟兴; 曾文汶
地址 北京市东城区和平里东街11号8号楼一层1-B10号

专利主权项内容

1.一种测试用例生成方法,其特征在于,包括:获取用户在访问目标服务时的服务请求信息,并基于所述服务请求信息,生成候选测试用例;对所述候选测试用例进行回放,并获取所述候选测试用例回放过程中,所述目标服务对所述候选测试用例进行响应的代码覆盖信息;所述代码覆盖信息用于描述所述目标服务响应所述候选测试用例过程中的代码执行情况;基于所述代码覆盖信息,从所述候选测试用例中筛选对待测试服务进行测试的目标测试用例;其中,所述待测试服务和所述目标服务属于相同服务的不同版本。