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一种气体颗粒物粒径传感器的平行性温控校准方法
摘要文本
本发明涉及一种气体颗粒物粒径传感器的平行性温控校准方法，属于检测设备技术领域，解决了现有技术中空气颗粒物检测技术存在难以保证一致性的问题。本发明技术方案主要包括：S1、在同一工作温度中对所有待校准传感器进行校准；S2、将待测气体通入至少部分所述待校准传感器中以获取对应的第一测量值；S3、根据待校准传感器的第一测量值获取校准参考值；S4、将各所述待校准传感器分别布设于不同的工作温度中以获取对应的第二测量值；S5、若第二测量值与所述校准参考值的差值大于预设阈值，则通过变温模块改变第一透镜的工作温度，并返回执行步骤S4；S6、若第二测量值与所述校准参考值的差值小于或等于预设阈值，完成所述平行性温控校准方法。
申请人信息
- 申请人:北京英视睿达科技股份有限公司
- 申请人地址:100070 北京市丰台区汽车博物馆西路8号院1号楼6层606
- 发明人: 北京英视睿达科技股份有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种气体颗粒物粒径传感器的平行性温控校准方法 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410067695.9 |
| 申请日 | 2024/1/17 |
| 公告号 | CN117571560A |
| 公开日 | 2024/2/20 |
| IPC主分类号 | G01N15/0205 |
| 权利人 | 北京英视睿达科技股份有限公司 |
| 发明人 | 韩佳成; 代文帅; 廖炳瑜; 亓俊涛; 张文仓; 常鹏慧; 郭东宸 |
| 地址 | 北京市丰台区汽车博物馆西路8号院1号楼6层606 |
专利主权项内容
1.一种气体颗粒物粒径传感器的平行性温控校准方法，其特征在于，所述传感器包括：第一透镜和变温模块，所述第一透镜的折射率随第一透镜的工作温度的变化而变化，所述变温模块被配置为改变所述第一透镜的工作温度；所述平行性温控校准方法包括以下步骤：S1、在同一工作温度中对所有待校准传感器进行校准；S2、将待测气体通入至少部分所述待校准传感器中以获取对应的第一测量值；S3、根据待校准传感器的第一测量值获取校准参考值；S4、将各所述待校准传感器分别布设于不同的工作温度中以获取对应的第二测量值；S5、若第二测量值与所述校准参考值的差值大于预设阈值，则通过变温模块改变第一透镜的工作温度，并返回执行步骤S4；S6、若第二测量值与所述校准参考值的差值小于或等于预设阈值，完成所述平行性温控校准方法。