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一种宽光谱、大量程的高精度双折射相位差测量装置
摘要文本
本发明公开的一种宽光谱、大量程的高精度双折射相位差测量装置，属光学测试技术领域。本发明包括可调输出波长的LED光源、汇聚透镜，起偏器、消色差1/4波片、成像镜头、探测器、电动旋转台和控制单元。通过可调输出波长的LED光源与消色差1/4波片配套使用，能够在宽光谱的范围内进行测量；通过调整消色差1/4波片快慢轴与线偏振片偏振方向、被测样品快慢轴的相对角度，以及各偏振器件绕透光轴旋转的角度，实现工作模式在圆偏光模式、暗场/亮场模式与补偿模式之间切换，并给出3种测量模式的对应算法，通过切换3种模式，实现大量程、高精度测量。本发明能够实现宽光谱、大量程、高精度的双折射相位差测量，适用于光学玻璃、波片等材料。。微信公众号马克 数据网
申请人信息
- 申请人:北京奥博泰测控技术有限公司; 北京奥博泰科技有限公司
- 申请人地址:102400 北京市房山区沙岗街6号院二区6号楼1层101
- 发明人: 北京奥博泰测控技术有限公司; 北京奥博泰科技有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种宽光谱、大量程的高精度双折射相位差测量装置 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410028352.1 |
| 申请日 | 2024/1/9 |
| 公告号 | CN117553927A |
| 公开日 | 2024/2/13 |
| IPC主分类号 | G01J9/02 |
| 权利人 | 北京奥博泰测控技术有限公司; 北京奥博泰科技有限公司 |
| 发明人 | 朱秋东; 武文杰; 刘彬; 苑静; 张笑笑; 常俏; 魏天虎 |
| 地址 | 北京市房山区沙岗街6号院二区6号楼1层101; 北京市丰台区科技园区外环西路26号院19号楼 |
专利主权项内容
1.一种宽光谱、大量程的高精度双折射相位差测量装置，其特征在于：包括可调输出波长的LED光源、成像镜头、起偏器、消色差1/4波片、被测样品、探测器、电动旋转台和控制单元；可调输出波长的LED光源发出的光依次经过成像镜头、起偏器、消色差1/4波片和被测样品后，被探测器采集；起偏器和消色差1/4波片置于电动旋转台上；控制单元用于自动控制电动旋转台的旋转角度与探测器的采集；通过可调输出波长的LED光源与消色差1/4波片配套使用，能够在宽光谱的范围内进行测量；通过调整消色差1/4波片快慢轴与线偏振片偏振方向、被测样品快慢轴的相对角度，以及各偏振器件绕透光轴旋转的角度，实现工作模式在圆偏光模式、暗场/亮场模式与补偿模式之间切换，从而实现大量程、高精度双折射相位差测量。 来源：马 克 数 据 网