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一种掩模结构及掩模结构制备方法
摘要文本
本发明涉及光刻曝光光学元件技术领域,公开了一种掩模结构及掩模结构制备方法,其中,掩模结构包括透光组件和阻挡层,阻挡层位于透光组件的一侧表面,阻挡层内具有多个第一通孔,多个第一通孔间隔分布在阻挡层内,多个第一通孔的形状和分布位置记录目标图案的生成信息;透光组件对目标光束的透射率大于80%,阻挡层为吸光材料,目标光束透过透光组件、穿过各个第一通孔后传输至目标层上,目标光束穿过任意一个第一通孔均发生衍射以形成衍射光束,各个衍射光束传输至目标层上干涉叠加以形成目标图案。通过该掩模结构形成目标图案时,无需经过反射,且无需配备防护罩,避免了以目标光束连续曝光导致的反射率和图案分辨率下降的影响。
申请人信息
- 申请人:光科芯图(北京)科技有限公司
- 申请人地址:100176 北京市大兴区荣华中路22号院1号楼31层3101
- 发明人: 光科芯图(北京)科技有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种掩模结构及掩模结构制备方法 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410202975.6 |
| 申请日 | 2024/2/23 |
| 公告号 | CN117784513A |
| 公开日 | 2024/3/29 |
| IPC主分类号 | G03F1/24 |
| 权利人 | 光科芯图(北京)科技有限公司 |
| 发明人 | 应马可 |
| 地址 | 北京市大兴区荣华中路22号院1号楼31层3101 |
专利主权项内容
1.一种掩模结构,其特征在于,包括:透光组件;阻挡层,所述阻挡层位于所述透光组件的一侧表面,所述阻挡层内具有多个第一通孔(300),多个所述第一通孔(300)间隔分布在所述阻挡层内,多个所述第一通孔(300)的形状和分布位置记录目标图案的生成信息;其中,所述透光组件对目标光束的透射率大于80%,所述阻挡层为吸光材料;所述目标光束透过所述透光组件、穿过各个所述第一通孔(300)后传输至目标层上;其中,所述目标光束穿过任意一个所述第一通孔(300)均发生衍射以形成衍射光束,各个所述衍射光束传输至所述目标层上干涉叠加以形成目标图案。