← 返回列表
一种用于卷材测宽和中心点偏差的扫描式测量方法
摘要文本
本发明提供了一种用于卷材测宽和中心点偏差的扫描式测量方法。涉及扫描式测量领域，包括：基于预设光栅位移传感器获取被测卷材的卷材基础测量数据，并筛选得到卷材第一边界值；基于获取到的基础测量数据结合被测卷材的测量精度确定实时测量方案；基于实时测量方案对被测卷材的卷材第一测量图像进行图像获取，并根据图像获取结果得到卷材第二边界值；基于卷材第一边界值与卷材第二边界值得到被测卷材的精准卷材边界，并基于对应算法得到被测卷材的测宽及中心点偏差，从而实现对被测卷材的精准测量。通过采用位移传感器和测量图像两种方式来对卷材的边界值进行获取，从而得到精准的卷材边界，可以使得对卷材的测宽及中心点偏差的测量更加精确。。来自：
申请人信息
- 申请人:钛玛科(北京)工业科技有限公司
- 申请人地址:100176 北京市大兴区亦庄经济开发区经海四路福美宝产业园11号院3号楼4层
- 发明人: 钛玛科(北京)工业科技有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种用于卷材测宽和中心点偏差的扫描式测量方法 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410195085.7 |
| 申请日 | 2024/2/22 |
| 公告号 | CN117760313A |
| 公开日 | 2024/3/26 |
| IPC主分类号 | G01B11/00 |
| 权利人 | 钛玛科(北京)工业科技有限公司 |
| 发明人 | 杨牧; 赵亮; 刘金龙; 孟宪金 |
| 地址 | 北京市大兴区亦庄经济开发区经海四路福美宝产业园11号院3号楼4层 |
专利主权项内容
1.一种用于卷材测宽和中心点偏差的扫描式测量方法，其特征在于，包括：步骤1：基于预设光栅位移传感器获取被测卷材的卷材基础测量数据，并筛选得到卷材第一边界值；步骤2：基于获取到的基础测量数据结合被测卷材的测量精度确定实时测量方案；步骤3：基于实时测量方案对被测卷材的卷材第一测量图像进行图像获取，并根据图像获取结果得到卷材第二边界值；步骤4：基于卷材第一边界值与卷材第二边界值得到被测卷材的精准卷材边界，并基于对应算法得到被测卷材的测宽及中心点偏差，从而实现对被测卷材的精准测量。