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一种可进行滤光片切换的材料涂层厚度检测系统和方法
摘要文本
本发明公开了一种可进行滤光片切换的材料涂层厚度检测系统和方法，所述可进行滤光片切换的材料涂层厚度检测系统包括：全光谱光源；切换单元，用于切换为目标波长的滤光片，输出所述全光谱光源中的目标波长的光源，并通过所述目标波长的光源照射待检测材料；所述待检测材料，用于接收所述目标波长的光源，并将所述目标波长的光源透过自身时产生的穿透光源输送到光传感器；所述光传感器，用于接收所述穿透光源，并将所述穿透光源转换为光信号输送到MCU；MCU，用于接收所述光信号，并根据所述光信号输出所述待检测材料的厚度，通过切换单元对滤光片进行切换，提高了材料涂层厚度检测结果的准确度，并降低了检测成本。
申请人信息
- 申请人:钛玛科(北京)工业科技有限公司
- 申请人地址:100176 北京市大兴区亦庄经济开发区经海四路福美宝产业园11号院3号楼4层
- 发明人: 钛玛科(北京)工业科技有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种可进行滤光片切换的材料涂层厚度检测系统和方法 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410161104.4 |
| 申请日 | 2024/2/5 |
| 公告号 | CN117704980A |
| 公开日 | 2024/3/15 |
| IPC主分类号 | G01B11/06 |
| 权利人 | 钛玛科(北京)工业科技有限公司 |
| 发明人 | 杨牧; 郝瀚; 庞国迎; 郝宏基; 方亮 |
| 地址 | 北京市大兴区亦庄经济开发区经海四路福美宝产业园11号院3号楼4层 |
专利主权项内容
1.一种可进行滤光片切换的材料涂层厚度检测系统，其特征在于，所述材料涂层厚度检测系统包括：全光谱光源；切换单元，用于切换为目标波长的滤光片，输出所述全光谱光源中的目标波长的光源，并通过所述目标波长的光源照射待检测材料；所述待检测材料，用于接收所述目标波长的光源，并将所述目标波长的光源透过自身时产生的穿透光源输送到光传感器；所述光传感器，用于接收所述穿透光源，并将所述穿透光源转换为光信号输送到MCU；MCU，用于接收所述光信号，并根据所述光信号输出所述待检测材料的厚度。