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一种基于PID控制的涂布纠偏控制方法及系统

申请号: CN202410063994.5
申请人: 钛玛科(北京)工业科技有限公司
申请日期: 2024/1/17

摘要文本

本申请公开了一种基于PID控制的涂布纠偏控制方法及系统,涉及锂电池生产工艺技术领域,分析出第一边缘位置和预设标准位置之间的第一位置差异特征,由预设控制分析模型确定出第一PID控制策略,基于第一PID控制策略驱动第一纠偏机构对条状薄片进行纠偏,基于第二位置差异特征和修正模型,得到第二PID控制策略,对第二PID控制策略进行纠偏仿真,生成虚拟条状薄片运行模型,对虚拟条状薄片运行模型进行排序,并将序次第一的虚拟条状薄片运行模型所对应的第二PID控制策略认定为最优PID控制策略,上述技术方案公开了对条状薄片的PID控制策略的生成,通过多次位置差异特征的分析,实现对PID控制策略的修正,进而使纠偏控制更加精准。

专利详细信息

项目 内容
专利名称 一种基于PID控制的涂布纠偏控制方法及系统
专利类型 发明申请
申请号 CN202410063994.5
申请日 2024/1/17
公告号 CN117572760A
公开日 2024/2/20
IPC主分类号 G05B11/42
权利人 钛玛科(北京)工业科技有限公司
发明人 杨牧; 李慧东; 侯庆亮; 何佳程
地址 北京市大兴区亦庄经济开发区经海四路福美宝产业园11号院3号楼4层

专利主权项内容

1.一种基于PID控制的涂布纠偏控制方法,其特征在于,包括:建立有条状薄片特征记录表,所述条状薄片特征记录表包括若干条状薄片类型,每一条状薄片类型关联有若干特征因子;根据生产线上条状薄片的特征因子,在条状薄片特征记录表中确定出对应的条状薄片类型;实时采集条状薄片在没有纠偏时的第一边缘位置;计算条状薄片的第一边缘位置和预设标准位置之间的第一位置差异特征;根据确定的条状薄片类型,确定应用的预设控制分析模型,并基于第一位置差异特征,由预设控制分析模型确定出第一PID控制策略;基于第一PID控制策略,驱动第一纠偏机构的对条状薄片进行纠偏;实时采集条状薄片在第一次纠偏时的第二边缘位置,并基于第二边缘位置相对预设标准位置的第二位置差异特征以及预设的修正模型,对第一PID控制策略多次修正,得到第二PID控制策略;针对每一第二PID控制策略进行纠偏模拟仿真,生成虚拟条状薄片运行模型;将每一虚拟条状薄片运行模型中的虚拟边缘位置与预设标准位置进行比对分析,确定出虚拟位置差异特征,并对虚拟位置差异特征进行纠偏效果评价,并基于纠偏效果评价,对虚拟条状薄片运行模型进行排序;根据序次第一的虚拟条状薄片运行模型所对应的第二PID控制策略,驱动第二纠偏机构对条状薄片进行纠偏,并实时采集条状薄片在第二次纠偏时的第三边缘位置,并比对分析第三边缘位置与条状薄片运行模型相吻合程度,若相吻合程度大于预设值,则将虚拟条状薄片运行模型所对应第二PID控制策略认定为最优PID控制策略。