一种双显卡模块的电源控制模块
摘要文本
本发明涉及电源控制技术领域，具体地说，涉及一种双显卡模块的电源控制模块。其包括获取控制单元、数据分析单元、预测平滑单元、综合方案单元、性能模式单元，性能模式单元根据制定的综合方案数据进行显卡性能模式的调节，并利用制定的综合方案数据来减少在调节显卡性能模式时所产生短期内的电压波动和噪音。本发明综合方案单元根据获取控制单元中的数据和预测平滑单元中计算的显卡负载滑动平均值并进行综合方案的制定，通过获取显卡负载数据，可以深入了解显卡在不同负载条件下的工作状态，及时分析出电压波动和噪音问题并进行解决，基于不同数据和解决的结果，可以制定针对性的综合方案，从而提高显卡的整体性能和稳定性。
申请人信息
- 申请人:北京比格凯特科技有限公司
- 申请人地址:101500 北京市密云区北庄镇北庄村华盛路142号政府办公楼223室-2745
- 发明人: 北京比格凯特科技有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种双显卡模块的电源控制模块 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410251461.X |
| 申请日 | 2024/3/6 |
| 公告号 | CN117826966A |
| 公开日 | 2024/4/5 |
| IPC主分类号 | G06F1/26 |
| 权利人 | 北京比格凯特科技有限公司 |
| 发明人 | 潘晓清 |
| 地址 | 北京市密云区北庄镇北庄村华盛路142号政府办公楼223室-2745 |
专利主权项内容
1.一种双显卡模块的电源控制模块，其特征在于：包括获取控制单元(1)、数据分析单元(2)、预测平滑单元(3)、综合方案单元(4)、性能模式单元(5)；所述获取控制单元(1)用于获取电源数据和双显卡相关数据并进行处理，再对处理的数据进行电压波动和噪音的检测；所述数据分析单元(2)用于接收获取控制单元(1)中处理的数据并进行双显卡温度和双显卡负载的分析；所述预测平滑单元(3)用于接收数据分析单元(2)中分析的数据并进行显卡负载趋势的预测，再根据预测的显卡负载趋势数据进行平滑处理；所述综合方案单元(4)用于接收获取控制单元(1)中的数据和预测平滑单元(3)中的数据并进行综合方案的制定；所述性能模式单元(5)用于接收综合方案单元(4)中综合方案数据并进行显卡性能模式的调节；所述综合方案单元(4)根据获取控制单元(1)中的数据和预测平滑单元(3)中的数据并进行综合方案的制定，将制定的综合方案数据传入性能模式单元(5)中，性能模式单元(5)根据制定的综合方案数据进行显卡性能模式的调节，并利用制定的综合方案数据来减少在调节显卡性能模式时所产生短期内的电压波动和噪音。