一种应用于存储器芯片的抗辐照检测系统

专利主权项内容

1.一种应用于存储器芯片的抗辐照检测系统，其特征在于，包括：辐照测试模块，用于容纳存储器芯片并对存储器芯片进行辐照测试；无线通信模块，包括无线输出单元、无线接收单元和控制单元；其中，所述无线输出单元设置于辐照测试模块中并与存储器芯片相连，用于实时获取存储器芯片的测试数据并发送到所述无线接收单元；所述无线接收单元设置在所述辐照测试模块之外，用于接收所述无线输出单元发送的测试数据；所述无线通信模块包括以下多种传输模式，所述控制单元用于根据实时传输情况切换无线通信模块的传输模式：单发单收模式：一个无线输出单元和一个无线接收单元组成一组收发单元，传输一个存储器芯片的测试数据；单发多收模式：一个无线输出单元和多个无线接收单元组成一组收发单元，传输一个存储器芯片的测试数据；多个无线接收单元分时段接收或重复接收所述一个无线输出单元输出的测试数据；多发多收模式：多个无线输出单元和多个无线接收单元组成一组收发单元，传输一个存储器芯片的测试数据；多个无线接收单元分时段接收或重复接收所述多个无线输出单元输出的测试数据；中断/恢复模式：在存储器芯片存在损坏风险的情况下，无线发送单元中止发送测试数据而发送表示传输中断的第一特定数据帧，经过预设时长，无线发送单元发送表示传输恢复的第二特定数据帧，无线通信模块恢复中断前的传输模式；数据分析模块，用于对所有无线接收单元接收的测试数据进行分析，以确定存储器芯片的抗辐照性能。