存储器芯片辐照检测方法

专利主权项内容

1.一种存储器芯片辐照检测方法，其特征在于，包括：S1，在电路板上设置有抗辐照的存储模块、数据压缩模块，第一自检模块、第一比对模块、第二自检模块和第二比对模块，所述存储模块中在辐照之前存入待检测数据，所述第一比对模块和所述第二比对模块分别预设有第一验证数据和第二验证数据，第一验证数据与第二验证数据一致；S2，辐照测试之前，待测存储器芯片存入所述存储模块的待检测数据，启动辐照检测之后，读取待测存储器芯片得到的输出数据，将输出数据在电路板上分别由所述第一比对模块和所述第二比对模块与第一验证数据和第二验证数据进行比对，若输出数据与第一验证数据以及第二验证数据一致，则认定待测存储器芯片没有错误，将第一比对结果和/或第二比对结果发送到所述存储模块中存储；S3，若输出数据与第一验证数据或第二验证数据不一致，所述第一自检模块和所述第二自检模块分别进行自检，获取自检后的第一错误率和第二错误率，若第一错误率高于第二错误率，则将第二比对结果发送到所述数据压缩模块，所述数据压缩模块对第二比对结果压缩，对于第二比对结果中连续正确的数据，记录起始位置和连续正确的数据个数，对于错误数据，记录错误位置、错误类型及错误的值，将压缩后的第二比对结果发送到所述存储模块存储；若第一错误率低于第二错误率，所述数据压缩模块对第一比对结果压缩，对于第一比对结果中连续正确的数据，记录起始位置和连续正确的数据个数，对于错误数据，记录错误位置、错误类型及错误的值，将压缩后第一比对结果发送到所述存储模块存储。