辐照检测存储器芯片的测试方法

专利主权项内容

1.一种辐照检测存储器芯片的测试方法，其特征在于，包括：步骤一，在待测芯片上设置多个高灵敏度传感器，以获取测试过程中高灵敏度传感器同一时刻参数量及参数变化量，所述参数量包括电流值、电压值、电阻值、电容值、电感值、温度值及磁场强度值，将多个高灵敏度传感器收集到的模拟信号转换为数字信号，并发送到外部处理系统；步骤二，所述外部处理系统对多个相同待测芯片写入输入数据，并获取待测芯片的读取输出数据，识别待测芯片内发生数据翻转时，所述外部处理系统记录此时电流值、电压值、电阻值、电容值、电感值、温度值及磁场强度值的参数量及参数变化量，获取出现频率高于预设频率值的数据翻转，以及对应此时高灵敏度传感器参数量及参数变化量，并作为待测芯片是否发生数据翻转的判断标准；步骤三，当其他相同待测芯片发生相同的电流值、电压值、电阻值、电容值、电感值、温度值及磁场强度值的变化时，将该待测芯片标记为发生过数据翻转。