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半导体器件的封装结构和封装方法
摘要文本
本申请公开了一种半导体器件的封装结构和封装方法,该半导体器件的封装结构包括:绝缘基板,绝缘壳体,多个绝缘肋条和半导体器件,其中绝缘壳体位于绝缘基板的一侧以围成容纳空间,绝缘壳体具有顶面和侧壁,至少一个侧壁具有多个间隔设置的条状结构;多个绝缘肋条位于相邻的多个条状结构之间,绝缘肋条分别与顶面和条状结构所在的侧壁连接,相邻条状结构之间具有间隔区域,绝缘肋条在第一方向上具有相对的两端,绝缘肋条的两端突出于间隔区域,第一方向为绝缘基板指向绝缘壳体的方向;半导体器件设置于容纳空间中;该半导体的封装结构实现了在高电压、小电流的应用场景下满足了器件的高绝缘强度需求。
申请人信息
- 申请人:北京怀柔实验室; 北京智慧能源研究院; 华北电力大学
- 申请人地址:101400 北京市怀柔区杨雁东一路8号院5号楼319室
- 发明人: 北京怀柔实验室; 北京智慧能源研究院; 华北电力大学
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 半导体器件的封装结构和封装方法 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410190217.7 |
| 申请日 | 2024/2/20 |
| 公告号 | CN117766470A |
| 公开日 | 2024/3/26 |
| IPC主分类号 | H01L23/053 |
| 权利人 | 北京怀柔实验室; 北京智慧能源研究院; 华北电力大学 |
| 发明人 | 李文源; 李浩; 李学宝; 金锐; 崔翔; 李哲洋; 赵志斌; 郑超; 周扬 |
| 地址 | 北京市怀柔区杨雁东一路8号院5号楼319室; 北京市昌平区未来科技城滨河大道18号; 北京市昌平区朱辛庄北农路2号 |
专利主权项内容
1.一种半导体器件的封装结构,其特征在于,包括:绝缘基板;绝缘壳体,位于所述绝缘基板的一侧以围成容纳空间,所述绝缘壳体具有顶面和侧壁,至少一个所述侧壁具有多个间隔设置的条状结构;多个绝缘肋条,位于相邻的多个所述条状结构之间,所述绝缘肋条分别与顶面和所述条状结构所在的侧壁连接,相邻所述条状结构之间具有间隔区域,所述绝缘肋条在第一方向上具有相对的两端,所述绝缘肋条的两端突出于间隔区域,所述第一方向为所述绝缘基板指向所述绝缘壳体的方向;半导体器件,设置于所述容纳空间中。