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平面敷贴器活度获取方法、装置、电子设备及存储介质
摘要文本
本发明属于核医学领域,提供一种平面敷贴器活度获取方法、装置、电子设备及存储介质,所述方法包括以下步骤:使用井型活度计测量待测平面敷贴器的活度,得到测量值;将所述测量值用校准因子校准后,获取目标平面敷贴器活度;其中,所述校准因子基于样本平面敷贴器的测量值和真实值得到,且所述校准因子根据测量状态的不同而不同,所述测量状态分为水平状态、直立状态和弯曲状态。本发明通过先获得校准因子,再对使用井型活度计直接测量得到的测量值进行校准,从而得到更为准确的平面敷贴器的活度,该方法具有操作简单、准确度高、便于临床核医学科操作应用的优势。
申请人信息
- 申请人:原子高科股份有限公司
- 申请人地址:102445 北京市房山区拱辰街道卓秀北街2号院4-2号楼2层201室
- 发明人: 原子高科股份有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 平面敷贴器活度获取方法、装置、电子设备及存储介质 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410172446.6 |
| 申请日 | 2024/2/7 |
| 公告号 | CN117724145A |
| 公开日 | 2024/3/19 |
| IPC主分类号 | G01T1/178 |
| 权利人 | 原子高科股份有限公司 |
| 发明人 | 贾少青; 梁艳; 周光伟; 张峻豪; 张雪峰; 窦勤毅; 高岩 |
| 地址 | 北京市房山区拱辰街道卓秀北街2号院4-2号楼2层201室 |
专利主权项内容
1.一种平面敷贴器活度获取方法,其特征在于,包括以下步骤:使用井型活度计测量待测平面敷贴器的活度,得到测量值;将所述测量值用校准因子校准后,获取目标平面敷贴器活度;其中,所述校准因子基于样本平面敷贴器的测量值和真实值得到,且所述校准因子根据测量状态的不同而不同,所述测量状态分为水平状态、直立状态和弯曲状态。。马-克-数据