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一种基于机器视觉的芯片筛选防检测系统
摘要文本
本发明公开了一种基于机器视觉的芯片筛选防检测系统，包括：图像采集模块、图像处理模块、图像识别模块和目标芯片测试模块；所述图像采集模块用于获取目标芯片放置位置的图像并传输至图像处理模块；所述图像处理模块用于对图像进行融合操作，输出融合图像并传输至图像识别模块；所述图像识别模块用于对融合图像进行识别，获取目标芯片位置信号和外观信息的识别结果，并根据识别结果发送命令至目标芯片测试模块；目标芯片测试模块用于根据命令控制是否给目标芯片进行通电测试。本申请通过融合操作增强芯片特征信息的增强和图像信息精度，用以更好的对芯片进行防检测。
申请人信息
- 申请人:北京京瀚禹电子工程技术有限公司
- 申请人地址:102206 北京市昌平区沙河镇松兰堡村西海特光电院内办公楼1层102室
- 发明人: 北京京瀚禹电子工程技术有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种基于机器视觉的芯片筛选防检测系统 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410067963.7 |
| 申请日 | 2024/1/17 |
| 公告号 | CN117630045A |
| 公开日 | 2024/3/1 |
| IPC主分类号 | G01N21/956 |
| 权利人 | 北京京瀚禹电子工程技术有限公司 |
| 发明人 | 葛亚山; 李建强; 柳紫微; 任丽姣 |
| 地址 | 北京市昌平区沙河镇松兰堡村西海特光电院内办公楼1层102室 |
专利主权项内容
1.一种基于机器视觉的芯片筛选防检测系统，其特征在于，包括：图像采集模块、图像处理模块、图像识别模块和目标芯片测试模块；所述图像采集模块用于获取目标芯片放置位置的图像并传输至图像处理模块；所述图像处理模块用于对图像进行融合操作，输出融合图像并传输至图像识别模块；所述图像识别模块用于对融合图像进行识别，获取目标芯片位置信号和外观信息的识别结果，并根据识别结果发送命令至目标芯片测试模块；目标芯片测试模块用于根据命令控制是否给目标芯片进行通电测试。