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一种存储器验证系统
摘要文本
本申请涉及一种存储器验证系统，其属于存储器验证技术领域，包括控制模块连接存储器芯片，用于接发信号以及处理数据；器件检测模块连接控制模块，用于对存储器芯片进行工位检测；验证模块连接控制模块，用于对存储器芯片进行功能测试；指示模块连接控制模块，用于根据器件检测模块和验证模块反馈的信号进行指示；电源模块连接控制模块，用于为控制模块提供电能。本申请具有提高了对存储器芯片的测试效率的效果。。百度搜索马 克 数 据 网
申请人信息
- 申请人:北京京瀚禹电子工程技术有限公司
- 申请人地址:102200 北京市昌平区沙河镇松兰堡村西海特光电院内办公楼1层102室
- 发明人: 北京京瀚禹电子工程技术有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种存储器验证系统 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410052177.X |
| 申请日 | 2024/1/15 |
| 公告号 | CN117637011A |
| 公开日 | 2024/3/1 |
| IPC主分类号 | G11C29/56 |
| 权利人 | 北京京瀚禹电子工程技术有限公司 |
| 发明人 | 赵杰; 李涛; 李品; 黄振东 |
| 地址 | 北京市昌平区沙河镇松兰堡村西海特光电院内办公楼1层102室 |
专利主权项内容
1.一种存储器验证系统，其特征在于，包括控制模块(1)、器件检测模块(2)、验证模块(3)、指示模块(4)和电源模块(5)；所述控制模块(1)连接存储器芯片(10)，用于接发信号以及处理数据；所述器件检测模块(2)连接所述控制模块(1)，用于对存储器芯片(10)进行工位检测；所述验证模块(3)连接所述控制模块(1)，用于对存储器芯片(10)进行功能测试；所述指示模块(4)连接所述控制模块(1)，用于根据所述器件检测模块(2)和所述验证模块(3)反馈的信号进行指示；所述电源模块(5)连接所述控制模块(1)，用于为所述控制模块(1)提供电能。 关注公众号