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非相干散射雷达探测的空间目标干扰去除方法和系统
摘要文本
本发明属于电离层探测领域,具体涉及一种非相干散射雷达探测的空间目标干扰去除方法和系统,旨在解决空间目标干扰造成电离层探测数据污染的问题。本发明包括:根据电离层探测信号计算功率剖面,对功率剖面进行积累;设置初始的背景样本,计算当前的积累功率剖面与背景样本的相对变化量,将相对变化量作为待检测对象;设计恒虚警检测器;通过恒虚警检测器进行空间目标干扰识别,存在干扰则记录干扰位置,不存在干扰则将背景样本更新为当前积累后的功率剖面;在原始探测信号中去除识别为干扰的距离单元,循环完成所有信号的干扰去除。本发明降低了电离层背景起伏造成的空间目标干扰漏检,准确度高,保障了电离层探测数据的质量。
申请人信息
- 申请人:中国科学院地质与地球物理研究所
- 申请人地址:100029 北京市朝阳区北土城西路19号
- 发明人: 中国科学院地质与地球物理研究所
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 非相干散射雷达探测的空间目标干扰去除方法和系统 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410179499.0 |
| 申请日 | 2024/2/18 |
| 公告号 | CN117724056A |
| 公开日 | 2024/3/19 |
| IPC主分类号 | G01S7/36 |
| 权利人 | 中国科学院地质与地球物理研究所 |
| 发明人 | 王俊逸; 乐新安; 丁锋; 宁百齐 |
| 地址 | 北京市朝阳区北土城西路19号 |
专利主权项内容
1.一种非相干散射雷达探测的空间目标干扰去除方法,其特征在于,所述方法包括:步骤S1,根据电离层探测信号计算功率剖面,对功率剖面进行积累,获得积累后的功率剖面;步骤S2,若不存在背景样本,将初始的背景样本值设置为零,否则计算当前积累后的功率剖面与背景样本的相对变化量,将相对变化量作为待检测对象;步骤S3,设计恒虚警检测器;步骤S4,通过所述恒虚警检测器对所述待检测对象进行空间目标干扰识别;若存在干扰则记录空间目标干扰的位置,进入步骤S5;若不存在干扰则将背景样本更新为当前积累后的功率剖面,回到步骤S1;步骤S5,根据识别得到的空间目标干扰的位置,去除空间目标干扰,回到步骤S1,直至处理完所有的电离层探测信号。