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非相干散射雷达探测的空间目标干扰去除方法和系统

申请号: CN202410179499.0
申请人: 中国科学院地质与地球物理研究所
申请日期: 2024/2/18

摘要文本

本发明属于电离层探测领域,具体涉及一种非相干散射雷达探测的空间目标干扰去除方法和系统,旨在解决空间目标干扰造成电离层探测数据污染的问题。本发明包括:根据电离层探测信号计算功率剖面,对功率剖面进行积累;设置初始的背景样本,计算当前的积累功率剖面与背景样本的相对变化量,将相对变化量作为待检测对象;设计恒虚警检测器;通过恒虚警检测器进行空间目标干扰识别,存在干扰则记录干扰位置,不存在干扰则将背景样本更新为当前积累后的功率剖面;在原始探测信号中去除识别为干扰的距离单元,循环完成所有信号的干扰去除。本发明降低了电离层背景起伏造成的空间目标干扰漏检,准确度高,保障了电离层探测数据的质量。

专利详细信息

项目 内容
专利名称 非相干散射雷达探测的空间目标干扰去除方法和系统
专利类型 发明申请
申请号 CN202410179499.0
申请日 2024/2/18
公告号 CN117724056A
公开日 2024/3/19
IPC主分类号 G01S7/36
权利人 中国科学院地质与地球物理研究所
发明人 王俊逸; 乐新安; 丁锋; 宁百齐
地址 北京市朝阳区北土城西路19号

专利主权项内容

1.一种非相干散射雷达探测的空间目标干扰去除方法,其特征在于,所述方法包括:步骤S1,根据电离层探测信号计算功率剖面,对功率剖面进行积累,获得积累后的功率剖面;步骤S2,若不存在背景样本,将初始的背景样本值设置为零,否则计算当前积累后的功率剖面与背景样本的相对变化量,将相对变化量作为待检测对象;步骤S3,设计恒虚警检测器;步骤S4,通过所述恒虚警检测器对所述待检测对象进行空间目标干扰识别;若存在干扰则记录空间目标干扰的位置,进入步骤S5;若不存在干扰则将背景样本更新为当前积累后的功率剖面,回到步骤S1;步骤S5,根据识别得到的空间目标干扰的位置,去除空间目标干扰,回到步骤S1,直至处理完所有的电离层探测信号。