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线性调频信号的电离层电子密度探测方法、系统及设备

申请号: CN202410130898.8
申请人: 中国科学院地质与地球物理研究所
申请日期: 2024/1/31

摘要文本

本发明属于无线电探测技术领域,具体涉及了一种线性调频信号的电离层电子密度探测方法、系统及设备,旨在解决现有的电离层电子密度结果的距离分辨率较低的问题。本发明包括:通过雷达采集的原始IQ数据;构建匹配滤波器并对原始IQ数据进行时域加窗处理,获得加窗信号;进行加窗信号的脉冲压缩处理,计算功率剖面;根据预设的时间分辨率和信号脉冲重复周期,计算所需积累帧数,获得积累后的功率剖面;对所述积累后的功率剖面进行噪声去除,获得去噪功率剖面数据;构建求解电子密度的三阶方程,并通过所述求解电子密度的三阶方程,根据所述去噪功率剖面数据获得电离层电子密度数据。本发明在保证信噪比的前提下,探测的距离分辨率得到显著提升。

专利详细信息

项目 内容
专利名称 线性调频信号的电离层电子密度探测方法、系统及设备
专利类型 发明申请
申请号 CN202410130898.8
申请日 2024/1/31
公告号 CN117665810A
公开日 2024/3/8
IPC主分类号 G01S13/88
权利人 中国科学院地质与地球物理研究所
发明人 王俊逸; 乐新安; 丁锋; 李鸣远; 王永辉
地址 北京市朝阳区北土城西路19号

专利主权项内容

1.一种线性调频信号的电离层电子密度探测方法,其特征在于,所述方法包括:步骤S1,通过对雷达采集的二进制信号文件进行解译,得到雷达报文文件和原始IQ数据;步骤S2,基于所述雷达报文文件提供的发射信号脉冲宽度和带宽,构建匹配滤波器,并对所述原始IQ数据进行时域加窗处理,获得加窗信号;步骤S3,基于所述雷达报文文件、匹配滤波器和加窗信号,进行信号脉冲压缩处理,计算功率剖面;步骤S4,基于所述功率剖面,根据预设的时间分辨率和信号脉冲重复周期,计算所需积累帧数,获得积累后的功率剖面;步骤S5,基于设定的高度阈值,对所述积累后的功率剖面进行噪声去除,获得去噪功率剖面数据;步骤S6,基于雷达的系统参数,构建求解电子密度的三阶方程,并通过所述求解电子密度的三阶方程,根据所述去噪功率剖面数据获得电离层电子密度数据。 来自马-克-数-据