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一种芯片故障检测方法、装置及电子设备
摘要文本
本发明提供一种芯片故障检测方法、装置及电子设备，该方法包括：首先，采集用于表征芯片的结构的图像数据。然后，将图像数据输入第一检测模型，确定芯片是否存在结构故障。在芯片存在结构故障的情况下，输出用于提醒芯片存在结构故障的第一提示信息。进一步的，在芯片不存在结构故障的情况下，获取芯片在预设的激励信号下的输出信号。然后，根据输出信号通过第二检测模型确定芯片是否存在电路故障。在芯片存在电路故障的情况下，输出用于提醒芯片存在电路故障的第二提示信息。这样，结合芯片的图像数据和输出信号，通过两个检测模型分别确定芯片是否存在结构故障和电路故障，以实现全面地对芯片进行故障检测，从而提高了芯片故障检测的准确性。
申请人信息
- 申请人:中诚华隆计算机技术有限公司
- 申请人地址:100012 北京市朝阳区来广营乡紫月路18号院3号楼8层
- 发明人: 中诚华隆计算机技术有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种芯片故障检测方法、装置及电子设备 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410076860.7 |
| 申请日 | 2024/1/19 |
| 公告号 | CN117589798A |
| 公开日 | 2024/2/23 |
| IPC主分类号 | G01N21/956 |
| 权利人 | 中诚华隆计算机技术有限公司 |
| 发明人 | 王嘉诚; 张少仲 |
| 地址 | 北京市朝阳区来广营乡紫月路18号院3号楼8层 |
专利主权项内容
1.一种芯片故障检测方法，其特征在于，所述方法包括：采集芯片的图像数据，所述图像数据用于表征所述芯片的结构；将所述图像数据输入第一检测模型中，确定所述芯片是否存在结构故障，所述第一检测模型用于将所述图像数据与所述芯片的原始设计图对比，输出所述芯片是否存在结构故障；在所述芯片存在结构故障的情况下，输出第一提示信息，所述第一提示信息用于提醒所述芯片存在结构故障；在所述芯片不存在结构故障的情况下，获取所述芯片在预设的激励信号下的输出信号；根据所述输出信号通过第二检测模型，确定所述芯片是否存在电路故障，所述第二检测模型用于根据所述输出信号的特征，确定并输出所述芯片是否存在电路故障；在所述芯片存在电路故障的情况下，输出第二提示信息，所述第二提示信息用于提醒所述芯片存在电路故障。