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用于计算设备的计算内核的调试方法、计算设备、计算机可读存储介质和计算机程序产品

申请号: CN202410216791.5
申请人: 北京壁仞科技开发有限公司; 上海壁仞科技股份有限公司
申请日期: 2024/2/27

摘要文本

本公开提供了一种用于计算设备的计算内核的调试方法、计算设备、计算机可读存储介质和计算机程序产品。该调试方法包括:配置调试张量以用于一个应用的多个线程束在所述计算设备的所述计算内核上的调试,所述调试张量的参数包括所述多个线程束的数量、用于每个线程束的调试内存大小以及所述多个线程束的偏移向量;在所述计算内核上对所述应用进行编译后,将所述计算设备的一个或多个计算单元的调试日志打印到所述调试张量所指示的调试内存;以及输出所述调试日志以确定调试日志异常的计算单元以及所述调试日志异常的计算单元所运行的线程束。。搜索马 克 数 据 网

专利详细信息

项目 内容
专利名称 用于计算设备的计算内核的调试方法、计算设备、计算机可读存储介质和计算机程序产品
专利类型 发明申请
申请号 CN202410216791.5
申请日 2024/2/27
公告号 CN117785591A
公开日 2024/3/29
IPC主分类号 G06F11/22
权利人 北京壁仞科技开发有限公司; 上海壁仞科技股份有限公司
发明人 请求不公布姓名; 请求不公布姓名; 请求不公布姓名; 请求不公布姓名; 请求不公布姓名
地址 北京市海淀区上地信息路26号1层0106-508室; 上海市闵行区陈行公路2388号16幢13层1302室

专利主权项内容

1.一种用于计算设备的计算内核的调试方法,包括:配置调试张量以用于一个应用的多个线程束在所述计算设备的所述计算内核上的调试,所述调试张量的参数包括所述多个线程束的数量、用于每个线程束的调试内存大小以及所述多个线程束的偏移向量;在所述计算内核上对所述应用进行编译后,将所述计算设备的一个或多个计算单元的调试日志打印到所述调试张量所指示的调试内存;以及输出所述调试日志以确定调试日志异常的计算单元以及所述调试日志异常的计算单元所运行的线程束。