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基于ICP光谱特征的食品中元素智能检测方法及系统

申请号: CN202410115859.0
申请人: 中国计量科学研究院
申请日期: 2024/1/29

摘要文本

本发明涉及食品中元素异常检测技术领域,具体涉及基于ICP光谱特征的食品中元素智能检测方法及系统。方法包括:获取待检测食品上每个位置在不同的波长下的NIR光谱数据和每个采样点的ICP光谱数据;根据待分析采样点的光强矢量、沿待分析采样点的光强矢量的反方向上与待分析采样点距离最近的异常区域内的待分析采样点的光强矢量的差异,得到异常评价值;根据待分析采样点与其邻域内采样点之间的光强矢量的角度差异、待分析采样点与其邻域内采样点的ICP光谱数据的差异和异常评价值,得到匹配程度值,进而确定变质区域。本发明提高了变质区域提取结果的准确度。

专利详细信息

项目 内容
专利名称 基于ICP光谱特征的食品中元素智能检测方法及系统
专利类型 发明申请
申请号 CN202410115859.0
申请日 2024/1/29
公告号 CN117647501A
公开日 2024/3/5
IPC主分类号 G01N21/359
权利人 中国计量科学研究院
发明人 李潇; 王霈虹; 赵博; 蔡玮; 逯海
地址 北京市朝阳区北三环东路18号

专利主权项内容

1.一种基于ICP光谱特征的食品中元素智能检测方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:获取待检测食品上每个位置在不同的波长下的NIR光谱数据,利用ICP光谱仪获取待检测食品上每个采样点的ICP光谱数据;根据每个位置在每个波长下的NIR光谱数据,确定每个位置每种元素的光谱强度特征值;基于所述NIR光谱数据确定异常区域,将所有采样点中除所述异常区域外的采样点记为待分析采样点;基于每个采样点与其预设邻域内采样点之间的光谱强度特征值之间的差异,确定每个采样点的光强矢量;根据每个待分析采样点的光强矢量、沿每个待分析采样点的光强矢量的反方向上与每个待分析采样点距离最近的异常区域内的待分析采样点的光强矢量的差异,得到每个待分析采样点的异常评价值;根据每个待分析采样点与其预设邻域内采样点之间的光强矢量的角度差异、每个待分析采样点与其预设邻域内采样点之间的ICP光谱数据的差异和所述异常评价值,得到每个待分析采样点对应的匹配程度值;基于每个待分析采样点和沿其光强矢量的反方向上与其距离最近的异常区域之间的距离和所述匹配程度值,筛选变质区域的边界点;基于所有边界点确定待检测食品上每种元素对应的变质区域。