← 返回列表

基于扩散多元节及SKPFM测量氢扩散系数的方法

申请号: CN202410172552.4
申请人: 北京科技大学
申请日期: 2024/2/7

摘要文本

本发明提供了一种基于扩散多元节及SKPFM测量氢扩散系数的方法,属于氢能利用领域,制备扩散多元节;基于扩散多元节基体的氢扩散系数,确定扩散多元节的充氢时间和厚度;对所述扩散多元节进行EPMA检测以确定待测区域;确保表面稳定,充氢后采用SKPFM在待测区域进行电动势的测量;计算各成分点对应的氢扩散系数。通过制备符合要求的扩散多元节,使得扩散多元节与SKPFM结合测量氢扩散系数的准确率可达99%以上。

专利详细信息

项目 内容
专利名称 基于扩散多元节及SKPFM测量氢扩散系数的方法
专利类型 发明申请
申请号 CN202410172552.4
申请日 2024/2/7
公告号 CN117723446A
公开日 2024/3/19
IPC主分类号 G01N13/00
权利人 北京科技大学
发明人 熊希临; 杨静静; 吴宏辉; 石荣建; 董恒; 陈通前
地址 北京市海淀区学院路30号

专利主权项内容

1.基于扩散多元节及SKPFM测量氢扩散系数的方法,其特征在于,制备扩散多元节;基于扩散多元节基体的氢扩散系数,确定扩散多元节的充氢时间和厚度;对所述扩散多元节进行EPMA检测以确定待测区域;确保表面稳定,充氢后采用SKPFM在待测区域进行电动势的测量;计算各成分点对应的氢扩散系数。