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计量设备的处理方法、装置及设备
摘要文本
本申请提供一种计量设备的处理方法、装置及设备，涉及电子设备技术领域，包括：在多个计量设备中确定多个异常计量设备，异常计量设备包括处于异常状态的第一类计量设备，以及异常指标值大于预设指标阈值的第二类计量设备；基于多个异常计量设备中，两两异常计量设备之间的距离，对多个异常计量设备进行区域聚类处理，得到多个区域聚类；基于多个区域聚类各自包括的异常计量设备的数量和类型，确定为多个区域聚类各自分配的处理资源；基于区域聚类包括的多个目标异常计量设备各自的安装地址，确定多个目标异常计量设备对应的目标处理顺序。本申请的方案能够提高计量设备更换处理的效率。
申请人信息
- 申请人:北京志翔科技股份有限公司
- 申请人地址:100083 北京市海淀区学院路35号世宁大厦11层1101室
- 发明人: 北京志翔科技股份有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 计量设备的处理方法、装置及设备 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410078913.9 |
| 申请日 | 2024/1/19 |
| 公告号 | CN117574185A |
| 公开日 | 2024/2/20 |
| IPC主分类号 | G06F18/23 |
| 权利人 | 北京志翔科技股份有限公司 |
| 发明人 | 李问溪; 陈亚珠; 杨林鹏; 姚强; 张惠泽; 杨公富 |
| 地址 | 北京市海淀区学院路35号世宁大厦11层1101室 |
专利主权项内容
1.一种计量设备的处理方法，其特征在于，包括：在多个计量设备中确定多个异常计量设备，所述异常计量设备包括处于异常状态的第一类计量设备，以及异常指标值大于预设指标阈值的第二类计量设备；基于所述多个异常计量设备中，两两异常计量设备之间的距离，对所述多个异常计量设备进行区域聚类处理，得到多个区域聚类；基于所述多个区域聚类各自包括的异常计量设备的数量和类型，确定为所述多个区域聚类各自分配的处理资源；针对各区域聚类，基于所述区域聚类包括的多个目标异常计量设备各自的安装地址，确定所述多个目标异常计量设备对应的目标处理顺序，所述目标处理顺序用于指示基于所述区域聚类的处理资源处理所述多个目标异常计量设备。