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作物叶面积指数高光谱遥感监测方法、装置、设备及介质
摘要文本
本发明提供作物叶面积指数高光谱遥感监测方法、装置、设备及介质,涉及遥感数据处理技术领域,其中方法包括:获取目标作物的高光谱遥感数据,高光谱遥感数据是对高光谱数据采集设备采集的原始遥感数据进行预处理后得到的;基于高光谱遥感数据,提取目标作物的作物冠层在多个预设波段的反射率作为目标反射率,预设波段至少包括920nm波段、1095nm波段、741nm波段以及747nm波段;基于预设波段确定对应的目标模型,将预设波段对应的目标反射率输入至目标模型中,得到目标作物的叶面积指数,目标模型为对目标反射率进行线性运算的模型。本发明可以实现适应多种条件下作物LAI的计算,稳健性高。
申请人信息
- 申请人:北京市农林科学院信息技术研究中心
- 申请人地址:100097 北京市海淀区曙光花园中路11号农科大厦A座1107
- 发明人: 北京市农林科学院信息技术研究中心
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 作物叶面积指数高光谱遥感监测方法、装置、设备及介质 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410071958.3 |
| 申请日 | 2024/1/18 |
| 公告号 | CN117589093A |
| 公开日 | 2024/2/23 |
| IPC主分类号 | G01B11/28 |
| 权利人 | 北京市农林科学院信息技术研究中心 |
| 发明人 | 李贺丽; 杨贵军; 冯海宽; 龙慧灵; 宋晓宇; 杨小冬; 杨浩; 徐波; 胡海棠 |
| 地址 | 北京市海淀区曙光花园中路11号农科大厦A座1107 |
专利主权项内容
1.一种作物叶面积指数高光谱遥感监测方法,其特征在于,包括:获取目标作物的高光谱遥感数据,所述高光谱遥感数据是对高光谱数据采集设备采集的原始遥感数据进行预处理后得到的;基于所述高光谱遥感数据,提取所述目标作物的作物冠层在多个预设波段的反射率作为目标反射率,所述预设波段至少包括920nm波段、1095nm波段、741nm波段以及747nm波段;基于所述预设波段确定对应的目标模型,将所述预设波段对应的所述目标反射率输入至所述目标模型中,得到所述目标作物的叶面积指数,所述目标模型为对所述目标反射率进行线性运算的模型。。该数据由整理