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芯片测试方法、装置、电子设备及可读存储介质

申请号: CN202410145294.0
申请人: 北京开源芯片研究院
申请日期: 2024/2/1

摘要文本

本申请提供了一种芯片测试方法、装置、电子设备及可读存储介质,涉及芯片开发技术领域,方法包括:在仿真器中搭建芯片测试系统,响应于虚拟处理器向虚拟内存控制器发送的读操作指令,通过虚拟协议转换器根据虚拟端口物理层的通信协议,对读操作指令进行协议转换,将协议转换后的读操作指令发送至虚拟端口物理层;通过虚拟端口物理层,从第二虚拟存储器中读取数据并进行信号转换处理,得到信号转换处理的读取值并存入第一虚拟存储器;通过虚拟内存控制器,从第一虚拟存储器中提取读取值,以根据读取值,确定虚拟芯片的功能是否达到预设的芯片功能设计要求。本申请的方法,可以同时对芯片的处理器及内存控制器进行测试。

专利详细信息

项目 内容
专利名称 芯片测试方法、装置、电子设备及可读存储介质
专利类型 发明申请
申请号 CN202410145294.0
申请日 2024/2/1
公告号 CN117688878A
公开日 2024/3/12
IPC主分类号 G06F30/33
权利人 北京开源芯片研究院
发明人 闫世显; 陈明宇; 李作骏; 唐丹; 包云岗
地址 北京市海淀区海淀大街31号3层312

专利主权项内容

1.一种芯片测试方法,其特征在于,包括:在仿真器中搭建芯片测试系统,所述芯片测试系统包括虚拟芯片、虚拟协议转换器、虚拟端口物理层和第一虚拟存储器,所述虚拟芯片包括虚拟处理器、虚拟内存控制器和第二虚拟存储器;所述虚拟端口物理层和所述虚拟内存控制器的通信协议不同;响应于所述虚拟处理器向所述虚拟内存控制器发送的读操作指令,通过所述虚拟协议转换器根据所述虚拟端口物理层的通信协议,对所述读操作指令进行协议转换,并将协议转换后的读操作指令发送至所述虚拟端口物理层;通过所述虚拟端口物理层,从所述第二虚拟存储器中读取数据并进行信号转换处理,得到信号转换处理的读取值并存入所述第一虚拟存储器;通过所述虚拟内存控制器,从所述第一虚拟存储器中提取所述读取值,以根据所述读取值,确定所述虚拟芯片的功能是否达到预设的芯片功能设计要求。