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芯片测试方法、装置、电子设备及可读存储介质
摘要文本
本申请提供了一种芯片测试方法、装置、电子设备及可读存储介质,涉及芯片开发技术领域,方法包括:在仿真器中搭建芯片测试系统,响应于虚拟处理器向虚拟内存控制器发送的读操作指令,通过虚拟协议转换器根据虚拟端口物理层的通信协议,对读操作指令进行协议转换,将协议转换后的读操作指令发送至虚拟端口物理层;通过虚拟端口物理层,从第二虚拟存储器中读取数据并进行信号转换处理,得到信号转换处理的读取值并存入第一虚拟存储器;通过虚拟内存控制器,从第一虚拟存储器中提取读取值,以根据读取值,确定虚拟芯片的功能是否达到预设的芯片功能设计要求。本申请的方法,可以同时对芯片的处理器及内存控制器进行测试。
申请人信息
- 申请人:北京开源芯片研究院
- 申请人地址:100084 北京市海淀区海淀大街31号3层312
- 发明人: 北京开源芯片研究院
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 芯片测试方法、装置、电子设备及可读存储介质 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410145294.0 |
| 申请日 | 2024/2/1 |
| 公告号 | CN117688878A |
| 公开日 | 2024/3/12 |
| IPC主分类号 | G06F30/33 |
| 权利人 | 北京开源芯片研究院 |
| 发明人 | 闫世显; 陈明宇; 李作骏; 唐丹; 包云岗 |
| 地址 | 北京市海淀区海淀大街31号3层312 |
专利主权项内容
1.一种芯片测试方法,其特征在于,包括:在仿真器中搭建芯片测试系统,所述芯片测试系统包括虚拟芯片、虚拟协议转换器、虚拟端口物理层和第一虚拟存储器,所述虚拟芯片包括虚拟处理器、虚拟内存控制器和第二虚拟存储器;所述虚拟端口物理层和所述虚拟内存控制器的通信协议不同;响应于所述虚拟处理器向所述虚拟内存控制器发送的读操作指令,通过所述虚拟协议转换器根据所述虚拟端口物理层的通信协议,对所述读操作指令进行协议转换,并将协议转换后的读操作指令发送至所述虚拟端口物理层;通过所述虚拟端口物理层,从所述第二虚拟存储器中读取数据并进行信号转换处理,得到信号转换处理的读取值并存入所述第一虚拟存储器;通过所述虚拟内存控制器,从所述第一虚拟存储器中提取所述读取值,以根据所述读取值,确定所述虚拟芯片的功能是否达到预设的芯片功能设计要求。