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一种图像自动曝光矫正与增强方法及装置
摘要文本
本申请提出了一种图像自动曝光矫正与增强方法及装置，该方法包括：根据正常曝光Raw图像数据中的线性关系，构造有监督的异常曝光图像数据集；构建全局亮度调整网络与频率增强重建网络，将异常曝光图像数据集输入全局亮度调整网络，得到亮度矫正图像，将亮度矫正图像输入频率增强重建网络，得到矫正增强图像；基于矫正增强图像与正常曝光Raw图像数据，计算损失值，并基于损失值对其网络模型参数进行优化，得到优化模型；将其他图像输入优化模型得到优化图像，根据图像质量评价指标评价优化图像，得到客观评估指标。基于本申请提出的方案，能够对原始Raw图像数据达到自动曝光矫正与增强的效果，从而应对复杂环境下成像质量低的问题。
申请人信息
- 申请人:北京理工大学; 杭州电子科技大学丽水研究院; 杭州电子科技大学
- 申请人地址:100081 北京市海淀区中关村南大街5号
- 发明人: 北京理工大学; 杭州电子科技大学丽水研究院; 杭州电子科技大学
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种图像自动曝光矫正与增强方法及装置 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410200816.2 |
| 申请日 | 2024/2/23 |
| 公告号 | CN117793538A |
| 公开日 | 2024/3/29 |
| IPC主分类号 | H04N23/71 |
| 权利人 | 北京理工大学; 杭州电子科技大学丽水研究院; 杭州电子科技大学 |
| 发明人 | 付莹; 张英凯; 刘乾坤; 张涛; 郑博伦; 王鸿奎; 颜成钢 |
| 地址 | 北京市海淀区中关村南大街5号; 浙江省丽水市莲都区南明山街道大沅街与绿源路交叉口东北侧半导体芯片产业园3号楼; 浙江省杭州市下沙高教园区2号大街 |
专利主权项内容
1.一种图像自动曝光矫正与增强方法，其特征在于，包括：获取正常曝光Raw图像数据，根据所述正常曝光Raw图像数据中的线性关系，构造有监督的异常曝光图像数据集；构建全局亮度调整网络与频率增强重建网络，将所述异常曝光图像数据集输入所述全局亮度调整网络，得到亮度矫正图像，将所述亮度矫正图像输入所述频率增强重建网络，得到矫正增强图像；基于所述矫正增强图像与所述正常曝光Raw图像数据，计算损失值，并基于所述损失值对所述全局亮度调整网络与频率增强重建网络的网络模型参数进行优化，得到优化模型；将其他图像输入所述优化模型得到优化图像，根据图像质量评价指标评价所述优化图像，得到客观评估指标。 来源：百度马 克 数据网