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一种基于混响室的多导体线缆屏蔽性能测试装置及方法
摘要文本
本发明涉及一种基于混响室的多导体线缆屏蔽性能测试装置及方法,它包括多导体转接模块和安装于多导体转接模块内的多导体选通模块和射频开关;多导体选通模块与射频开关的控制端口连接,射频开关的每个输入端口均连接一根同轴线,每根同轴线通过金属探针引入到线缆连接器内部并与一根导体线缆连接;通过多导体选通模块控制射频开关的n个自动化选通端口,实现对多导体线缆中n个导通的灵活自动化选通测试。本发明能够无损地实现对多导体线缆进行屏蔽性能测试,可移植性很好,可以通过设计适应不同连接器的测试装置,在不影响线缆完整性的前提下,实现对具有类似结构的多导体线缆屏蔽性能测试。
申请人信息
- 申请人:北京航空航天大学
- 申请人地址:100000 北京市海淀区学院路37号
- 发明人: 北京航空航天大学
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种基于混响室的多导体线缆屏蔽性能测试装置及方法 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410005703.7 |
| 申请日 | 2024/1/2 |
| 公告号 | CN117825847A |
| 公开日 | 2024/4/5 |
| IPC主分类号 | G01R31/00 |
| 权利人 | 北京航空航天大学 |
| 发明人 | 李冰; 黄雯轩; 李尧尧; 苏东林 |
| 地址 | 北京市海淀区学院路37号 |
专利主权项内容
1.一种基于混响室的多导体线缆屏蔽性能测试装置,其特征在于:它包括多导体转接模块和安装于多导体转接模块内的多导体选通模块和射频开关;所述多导体选通模块与射频开关的控制端口连接,射频开关的每个输入端口连接一根同轴线,每根同轴线通过金属探针引入到线缆连接器内部并与一根导体线缆连接,将多导体线缆内部导体延长至射频开关输入端,射频开关的输出端口通过同轴线与另一个SMA接口连接,该SMA接口通过同轴线与测试仪器连接;通过多导体选通模块控制射频开关的n个自动化选通端口,实现对多导体线缆中n个导通的灵活自动化选通测试。