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芯片测试方法、装置、电子设备及可读存储介质
摘要文本
本申请提供了一种芯片测试方法、装置、电子设备及可读存储介质，涉及芯片开发技术领域，方法包括：在仿真器中搭建芯片测试系统，通过虚拟处理器，向第一虚拟内存控制器发送第一读操作指令，通过第一虚拟内存控制器，调度第一操作指令并发送至虚拟端口物理层；通过虚拟端口物理层，从第二虚拟存储器中读取数据并进行信号转换处理，以得到信号转换处理的读取值并存入第一虚拟存储器；响应于虚拟处理器发送给第二虚拟内存控制器的第二读操作指令，从第一虚拟存储器中提取读取值，以根据读取值，确定虚拟芯片的功能是否达到预设的芯片功能设计要求。本申请的方法，可以同时测试芯片的处理器及内存控制器的性能。
申请人信息
- 申请人:北京开源芯片研究院
- 申请人地址:100084 北京市海淀区海淀大街31号3层312
- 发明人: 北京开源芯片研究院
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 芯片测试方法、装置、电子设备及可读存储介质 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410145891.3 |
| 申请日 | 2024/2/1 |
| 公告号 | CN117709253A |
| 公开日 | 2024/3/15 |
| IPC主分类号 | G06F30/33 |
| 权利人 | 北京开源芯片研究院 |
| 发明人 | 李作骏; 闫世显; 陈明宇; 卢天越; 唐丹; 包云岗 |
| 地址 | 北京市海淀区海淀大街31号3层312 |
专利主权项内容
1.一种芯片测试方法，其特征在于，包括：在仿真器中搭建芯片测试系统，所述芯片测试系统包括虚拟芯片、第一虚拟内存控制器、虚拟端口物理层和第一虚拟存储器，所述虚拟芯片包括虚拟处理器、第二虚拟内存控制器和第二虚拟存储器；通过所述虚拟处理器，向所述第一虚拟内存控制器发送第一读操作指令，通过所述第一虚拟内存控制器，调度所述第一读操作指令并发送至所述虚拟端口物理层；所述虚拟端口物理层和所述第二虚拟内存控制器之间的通信协议不同；通过所述虚拟端口物理层，从所述第二虚拟存储器中读取数据并进行信号转换处理，以得到信号转换处理的读取值并存入所述第一虚拟存储器；响应于所述虚拟处理器发送给所述第二虚拟内存控制器的第二读操作指令，从所述第一虚拟存储器中提取所述读取值，以根据所述读取值，确定所述虚拟芯片的功能是否达到预设的芯片功能设计要求。。来自