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一种高温合金热障涂层厚度的检测方法、装置以及一种存储介质、一种电子设备

申请号: CN202410196467.1
申请人: 中国航发北京航空材料研究院
申请日期: 2024/2/22

摘要文本

本发明提供了一种高温合金热障涂层厚度的检测方法、装置以及一种存储介质、一种电子设备。该检测方法采用扫描电子显微镜与X射线能谱仪对高温合金零部件及其表层的热障涂层进行微区组织成分分析,通过扫描电镜获取基体及热障涂层的微观照片(即,背散射图像),同时使用X射线能谱仪获取基体及热障涂层中元素的微区分布情况,利用元素质量百分比面分布图自动计算检测范围内热障涂层的平均厚度。该方法无需多次测量取平均值,测量效率高,且能够获取微观尺度下热障涂层的微观组织照片及其元素分布,测量准确性高。

专利详细信息

项目 内容
专利名称 一种高温合金热障涂层厚度的检测方法、装置以及一种存储介质、一种电子设备
专利类型 发明申请
申请号 CN202410196467.1
申请日 2024/2/22
公告号 CN117760347A
公开日 2024/3/26
IPC主分类号 G01B15/02
权利人 中国航发北京航空材料研究院
发明人 滕超逸; 赵文侠; 周静怡; 刘昌奎
地址 北京市海淀区温泉镇环山村

专利主权项内容

1.一种高温合金热障涂层厚度的检测方法,其特征在于,包括以下步骤:S1:分别获取待检测高温合金样品所含元素的质量百分比面分布图,所述待检测高温合金样品包括高温合金基体与复合在所述高温合金基体表面的热障涂层;S2:根据各元素质量百分比面分布图中的衬度,选择高温合金基体与热障涂层的衬度差异最大的元素质量百分比面分布图,计算该元素质量百分比图中各横排的像素上质量百分比的平均数,以其为纵坐标,以纵向的像素位置为横坐标做散点图,获得热障涂层纵向方向的总像素数量;并根据该元素质量百分比面分布图中的横向的像素数量、纵向的像素数量,得到单个像素的长度;S3:根据公式:热障涂层纵向方向的总像素数量×单个像素的长度,计算得到热障涂层厚度。