一种验证方法、装置、电子设备及可读存储介质

摘要文本

本发明实施例提供一种验证方法、装置、电子设备及可读存储介质，涉及计算机技术领域。该方法包括：将待测设计拆分为至少两个子模块；针对每个子模块进行建模，得到参考模型；所述参考模型包含所述待测设计中每个子模块对应的参考子模型；在每个时钟周期内对所述待测设计中的时序控制信号进行采样，并利用采样得到的时序控制信号对所述子模块和所述子模块对应的参考子模型进行时序对齐；对所述子模块的输出信息与所述参考子模型的输出信息进行比对，得到验证结果。本发明实施例对待测设计中的子模块与参考子模型进行了时序对齐，可以避免待测设计与参考模型的时序未对齐对验证完备性造成的负面影响。