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一种在线监测光机曝光图形的系统及其工作方法
摘要文本
本发明公开了一种在线监测光机曝光图形的系统及其工作方法,包括以下步骤:设置采集图像和切片图像的相似度阈值范围;从采集图像和切片图像的第一帧开始监测,使用采集图像与切片图像对比的方式判断曝光的正确性;若第一帧曝光正常,则从下一帧开始,直接判断后序帧与前序帧的相似度,若相似度在允许的阈值范围内,则判断当前曝光正常;若某一帧与前序帧的相似度超过阈值,说明当前帧曝光可能有错误,检测稳定后,继续使用帧与帧之间的相似度判断曝光正确性。本发明对陶瓷光固化增材制造的推扫曝光过程进行全程监控,发现异常可以及时报警,应用于大尺寸光固化陶瓷增材制造的应用场景。极大的提高了监控的帧率。
申请人信息
- 申请人:中国科学院空间应用工程与技术中心
- 申请人地址:100094 北京市海淀区邓庄南路9号
- 发明人: 中国科学院空间应用工程与技术中心
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种在线监测光机曝光图形的系统及其工作方法 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410023928.5 |
| 申请日 | 2024/1/8 |
| 公告号 | CN117629593A |
| 公开日 | 2024/3/1 |
| IPC主分类号 | G01M11/02 |
| 权利人 | 中国科学院空间应用工程与技术中心 |
| 发明人 | 贾新建; 刘兵山; 李鑫; 刘晓冬; 杨依哲; 王功 |
| 地址 | 北京市海淀区邓庄南路9号 |
专利主权项内容
1.一种在线监测光机曝光图形的方法,其特征在于,包括以下步骤:S100、设置采集图像和切片图像的相似度阈值范围;S200、从所述采集图像和所述切片图像的第一帧开始监测,使用所述采集图像与所述切片图像对比的方式判断曝光的正确性;S300、若第一帧曝光正常,则从下一帧开始,直接判断后序帧与前序帧的相似度,若相似度在允许的阈值范围内,则判断当前曝光正常;S400、若某一帧与前序帧的相似度超过阈值,说明当前帧曝光可能有错误,此后若干帧继续使用与所述切片图像对比的方式判断曝光是否正确;S500、检测稳定后,继续使用帧与帧之间的相似度判断曝光正确性。