← 返回列表

基于双阶段扩散模型的磁粒子图像去噪方法、系统及设备

申请号: CN202410102203.5
申请人: 北京航空航天大学
申请日期: 2024/1/25

摘要文本

本发明属于磁粒子成像技术领域,具体涉及一种基于双阶段扩散模型的磁粒子图像去噪方法、系统及设备,旨在解决现有的MPI图像去噪方法无法在去除条纹伪影的同时保留细节信息的问题。本方法包括:获取待去噪的二维MPI图像,作为输入图像;提取输入图像的目标感兴趣区域并进行预处理,得到预处理目标图像;对预处理目标图像输入训练好的MPI图像去噪模型,得到干净无噪声的MPI图像;MPI图像去噪模型为基于双阶段扩散模型的去噪网络;MPI图像去噪模型包括隐空间编码模块、条件扩散模块和多尺度去噪模块。本发明去除磁粒子图像中的条纹伪影噪声,同时保留图像中有效信息的细节,实现精准去噪。

专利详细信息

项目 内容
专利名称 基于双阶段扩散模型的磁粒子图像去噪方法、系统及设备
专利类型 发明申请
申请号 CN202410102203.5
申请日 2024/1/25
公告号 CN117635479A
公开日 2024/3/1
IPC主分类号 G06T5/70
权利人 北京航空航天大学
发明人 刘建刚; 郭李爽; 田捷; 安羽
地址 北京市海淀区学院路37号

专利主权项内容

1.一种基于双阶段扩散模型的磁粒子图像去噪方法,其特征在于,该方法包括:S100,获取待去噪的二维MPI图像,作为输入图像;S200,提取所述输入图像的目标感兴趣区域并进行预处理,得到预处理目标图像;S300,对所述预处理目标图像输入训练好的MPI图像去噪模型,得到干净无噪声的MPI图像;所述MPI图像去噪模型为基于双阶段扩散模型的去噪网络;所述MPI图像去噪模型包括隐空间编码模块、条件扩散模块和多尺度去噪模块;所述隐空间编码模块,用于对所述预处理目标图像进行特征提取,得到条纹噪声先验特征;所述条件扩散模块,用于提取噪声条件;结合所述噪声条件对所述条纹噪声先验特征进行逆向去噪,得到采样的条纹噪声先验特征;所述多尺度去噪网络,用于结合多个尺度的采样的条纹噪声先验特征对所述预处理目标图像进行去噪,得到干净无噪声的MPI图像。