射频收发芯片批量并发快速测试的系统及方法
摘要文本
本发明公开了射频收发芯片批量并发快速测试系统，包括：上位机；下位机，其与上位机通信连接，下位机上设有多核处理器和8个芯片槽，每个芯片槽通过独立的接口与多核处理器连接，并设有独立的IO通道和数据存储区域；机械臂，其与上位机连接，机械臂用于自动向下位机的芯片槽内取/放射频芯片；其中，上位机与下位机之间的通信交互接口是16根IO线，且上位机与下位机之间通过私有通信交互协议进行通信；以及，应用在该测试系统上的射频收发芯片批量并发快速测试方法。本发明的测试系统及方法可一次性同时并发测试8个待测芯片并可对硬件故障进行隔离，提高了批量测试的安全性和可靠性。 更多数据：
申请人信息
- 申请人:北京力通通信有限公司
- 申请人地址:100083 北京市海淀区王庄路1号院4号楼清华同方科技大厦19层1901
- 发明人: 北京力通通信有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 射频收发芯片批量并发快速测试的系统及方法 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410206070.6 |
| 申请日 | 2024/2/26 |
| 公告号 | CN117783835A |
| 公开日 | 2024/3/29 |
| IPC主分类号 | G01R31/28 |
| 权利人 | 北京力通通信有限公司 |
| 发明人 | 李泽龙; 张兴; 裴艳永; 唐小军; 周礼兵; 韦国华; 潘旭强; 张星; 张均惠; 王建国 |
| 地址 | 北京市海淀区王庄路1号院4号楼清华同方科技大厦19层1901 |
专利主权项内容
1.射频收发芯片批量并发快速测试系统，其特征在于，包括：上位机，其用于下发测试任务并评判返回的测试项结果；下位机，其与所述上位机通信连接，所述下位机上设有多核处理器和8个芯片槽，所述8个芯片槽分别通过独立的接口与所述多核处理器连接，并设有独立的IO通道和数据存储区域，所述8个芯片槽分别递增编号标注为“第0路待测芯片~第7路待测芯片”，所述下位机用于根据所述上位机下发的测试任务对插入芯片槽内的射频芯片进行并发测试并将测试项结果反馈给所述上位机；机械臂，其与所述上位机连接，所述机械臂用于自动向所述下位机的芯片槽内放置射频芯片或将芯片槽内放置的射频芯片取出；其中，所述上位机与下位机之间的通信交互接口是16根IO线，且所述上位机与下位机之间通过私有通信交互协议进行通信；所述私有通信交互协议是按照约定格式构造的16bit数，每个bit的1、0分别对应于一根IO线的高、低电平，所述约定格式包括测试任务下发格式、测试结果反馈格式和质量批次号传输格式；所述测试任务下发格式为高8bit的片选号s、次1个bit的任务类型t、低7bit的任务号n，片选号s的第0~7bit分别对应于“第0路待测芯片~第7路待测芯片”，t为0时代表任务类型是测试，n代表测试项编号；所述测试结果反馈格式为高3bit的芯片槽编号q、次6bit的错误码e、低7bit的任务号n；所述质量批次号传输格式为高8bit的片选号s、次1个bit的任务类型t、低7bit的质量批次号c，t为1时代表任务类型为写入芯片质量批次号。。关注微信公众号