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一种利用X/γ射线在线测量散状物料真密度的方法及系统

申请号: CN202410059219.2
申请人: 清华大学
申请日期: 2024/1/16

摘要文本

本申请提出一种利用X/γ射线在线测量散状物料真密度的方法及系统,所述方法包括:获取待测量散状物料的堆积厚度,并基于所述堆积厚度对所述散状物料进行分层;利用主探测器测量出准直的X/γ射线束透射散状物料后的射线强度、利用辅助探测器阵列测量出X/γ射线与物料的康普顿散射射线强度;根据主探测器测量出的所述X/γ射线束透射散状物料后的射线强度和辅助探测器阵列测量出的所述X/γ射线与物料的康普顿散射射线强度确定所述散状物料各层的密度;根据所述散状物料各层的密度确定所述散状物料的真密度。本申请提出的技术方案,可以准确的测量出散状物料的真密度,为工业生产提供科学的指导。

专利详细信息

项目 内容
专利名称 一种利用X/γ射线在线测量散状物料真密度的方法及系统
专利类型 发明申请
申请号 CN202410059219.2
申请日 2024/1/16
公告号 CN117571543A
公开日 2024/2/20
IPC主分类号 G01N9/24
权利人 清华大学
发明人 衣宏昌; 李君利; 曾志; 张辉; 武祯; 邱睿; 马豪
地址 北京市海淀区双清路30号清华大学清华园北京100084-82信箱

专利主权项内容

1.一种利用X/γ射线在线测量散状物料真密度的方法,其特征在于,所述方法包括:获取待测量散状物料的堆积厚度,并基于所述堆积厚度对所述散状物料进行分层;利用主探测器测量出准直的X/γ射线束透射散状物料后的射线强度、利用辅助探测器阵列测量出X/γ射线与物料的康普顿散射射线强度;根据主探测器测量出的所述X/γ射线束透射散状物料后的射线强度和辅助探测器阵列测量出的所述X/γ射线与物料的康普顿散射射线强度确定所述散状物料各层的密度;根据所述散状物料各层的密度确定所述散状物料的真密度。