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一种利用X/γ射线在线测量散状物料真密度的方法及系统
摘要文本
本申请提出一种利用X/γ射线在线测量散状物料真密度的方法及系统,所述方法包括:获取待测量散状物料的堆积厚度,并基于所述堆积厚度对所述散状物料进行分层;利用主探测器测量出准直的X/γ射线束透射散状物料后的射线强度、利用辅助探测器阵列测量出X/γ射线与物料的康普顿散射射线强度;根据主探测器测量出的所述X/γ射线束透射散状物料后的射线强度和辅助探测器阵列测量出的所述X/γ射线与物料的康普顿散射射线强度确定所述散状物料各层的密度;根据所述散状物料各层的密度确定所述散状物料的真密度。本申请提出的技术方案,可以准确的测量出散状物料的真密度,为工业生产提供科学的指导。
申请人信息
- 申请人:清华大学
- 申请人地址:100084 北京市海淀区清华园
- 发明人: 清华大学
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种利用X/γ射线在线测量散状物料真密度的方法及系统 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410059219.2 |
| 申请日 | 2024/1/16 |
| 公告号 | CN117571543A |
| 公开日 | 2024/2/20 |
| IPC主分类号 | G01N9/24 |
| 权利人 | 清华大学 |
| 发明人 | 衣宏昌; 李君利; 曾志; 张辉; 武祯; 邱睿; 马豪 |
| 地址 | 北京市海淀区双清路30号清华大学清华园北京100084-82信箱 |
专利主权项内容
1.一种利用X/γ射线在线测量散状物料真密度的方法,其特征在于,所述方法包括:获取待测量散状物料的堆积厚度,并基于所述堆积厚度对所述散状物料进行分层;利用主探测器测量出准直的X/γ射线束透射散状物料后的射线强度、利用辅助探测器阵列测量出X/γ射线与物料的康普顿散射射线强度;根据主探测器测量出的所述X/γ射线束透射散状物料后的射线强度和辅助探测器阵列测量出的所述X/γ射线与物料的康普顿散射射线强度确定所述散状物料各层的密度;根据所述散状物料各层的密度确定所述散状物料的真密度。