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一种基于智能仪器的光学标校方法及系统
摘要文本
本申请实施例提供的基于智能仪器的光学标校方法及系统，能够有效提高仪器的测量精度和可靠性。通过获取参考仪器和待标仪器对观测物体的原始测量信号，同步其时序特征，然后结合环境监测数据进行筛选，得到更精确的测量信号。利用已知的参考仪器的参考标校系数，可以准确确定待标仪器的当前标校系数，从而为待标仪器的标定提供了一种更精确、更稳定的方法。此外，通过环境监测数据的筛选，能够在不同环境条件下调整测量信号，进一步提升了测量结果的准确性。总体来说，这个技术方案为提高各类仪器的测量精度，优化设备性能，提供了一个实用、可靠的解决方案。
申请人信息
- 申请人:中国气象科学研究院
- 申请人地址:100081 北京市海淀区中关村南大街46号
- 发明人: 中国气象科学研究院
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种基于智能仪器的光学标校方法及系统 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410169301.0 |
| 申请日 | 2024/2/6 |
| 公告号 | CN117705177A |
| 公开日 | 2024/3/15 |
| IPC主分类号 | G01D18/00 |
| 权利人 | 中国气象科学研究院 |
| 发明人 | 车慧正; 郑宇; 桂柯; 李雷; 赵胡笳; 梁苑新; 赵恒恒; 王鹏; 夏祥鳌; 朱君; 宋京京; 王玉鹏; 朱吉彪; 魏垚 |
| 地址 | 北京市海淀区中关村南大街46号 |
专利主权项内容
。1.一种基于智能仪器的光学标校方法，其特征在于，应用于智能光学标校系统，所述方法包括：获取参考仪器针对观测物体的第一原始观测测量信号以及待标仪器针对所述观测物体的第二原始观测测量信号；其中，所述第一原始观测测量信号和所述第二原始观测测量信号的时序特征同步；采集与所述时序特征对应的环境监测数据，利用所述环境监测数据分别对所述第一原始观测测量信号和所述第二原始观测测量信号进行筛选，得到第一筛选测量信号和第二筛选测量信号；结合所述第一筛选测量信号、所述第二筛选测量信号以及所述参考仪器的参考标校系数，确定所述待标仪器的当前标校系数。