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一种基于多磁场自由线并行扫描的磁粒子成像装置

申请号: CN202410130901.6
申请人: 北京航空航天大学
申请日期: 2024/1/31

摘要文本

马 克 数 据 网 本发明属于磁粒子成像领域,具体涉及了一种基于多磁场自由线并行扫描的磁粒子成像装置。旨在解决现有技术中较大孔径下扫描足够范围的周围神经刺激和比吸收率的限制以及成像时间分辨率不高的问题。本发明包括:第一线圈、第二线圈、激励线圈和接收线圈;第一线圈用于通入第一频率的电流生成多根磁场自由线;第二线圈用于通入第一频率的电流,与第一线圈共同作用下,驱动磁场自由线旋转;激励线圈用于通入第二频率的电流驱动磁场自由线快速扫描;接收线圈接收每一个时间点磁场自由线扫描到的粒子信号;第一线圈、第二线圈、激励线圈和接收线圈沿成像视野的中心上下对称设置。本发明能够在较短的时间内进行多范围的磁场自由线成像。

专利详细信息

项目 内容
专利名称 一种基于多磁场自由线并行扫描的磁粒子成像装置
专利类型 发明申请
申请号 CN202410130901.6
申请日 2024/1/31
公告号 CN117653070A
公开日 2024/3/8
IPC主分类号 A61B5/0515
权利人 北京航空航天大学
发明人 田捷; 雷思奥; 安羽
地址 北京市海淀区学院路37号

专利主权项内容

1.一种基于多磁场自由线并行扫描的磁粒子成像装置,其特征在于,该装置包括第一线圈、第二线圈、激励线圈和接收线圈;所述第一线圈用于通入第一频率的电流生成多根磁场自由线;所述第一线圈沿其所在的平面均匀设置N组;所述第二线圈用于通入第一频率的电流,与所述第一线圈共同作用下,驱动所述磁场自由线旋转;所述第二线圈沿其所在的平面均匀设置2×(N-1)组,所述第二线圈设置在成像视野的远离所述第一线圈的一侧;所述激励线圈用于通入第二频率的电流驱动所述磁场自由线快速扫描;所述激励线圈沿其所在的平面均匀设置N-1组;所述激励线圈设置在所述第一线圈的靠近所述成像视野的一侧;所述接收线圈接收每一个时间点的磁场自由线扫描到的粒子信号,所述接收线圈沿其所在的平面均匀设置N-1组;所述接收线圈设置在所述激励线圈的靠近所述成像视野的一侧;所述第一线圈、所述第二线圈、所述激励线圈和所述接收线圈沿所述成像视野的中心上下对称设置。