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一种半导体结构的制造方法、芯片和电子设备

申请号: CN202410063645.3
申请人: 北京智芯微电子科技有限公司
申请日期: 2024/1/17

摘要文本

本公开涉及半导体集成电路制造技术领域,具体涉及一种半导体结构的制造方法、芯片和电子设备,包括:在衬底中形成深阱区域;形成浅隔离槽,用于在所述深阱区域中隔离出有源区;在所述有源区中执行离子注入,形成第一掺杂区、第二掺杂区、第三掺杂区,所述第一掺杂区位于所述第二掺杂区下方并且具有比所述第二掺杂区更大的宽度;在所述有源区中定义欧姆接触区域和肖特基区域;通过合金层与欧姆接触区域和肖特基区域形成接触孔区域。本发明针对寄生结构肖特基无法调节和耐压性不强的问题,通过第一掺杂区给予寄生肖特基器件一定的调节能力,可有效降低肖特基二极管正向的开启电压,增大正向电流导通能力,提高肖特基二极管耐压能力。

专利详细信息

项目 内容
专利名称 一种半导体结构的制造方法、芯片和电子设备
专利类型 发明申请
申请号 CN202410063645.3
申请日 2024/1/17
公告号 CN117577536A
公开日 2024/2/20
IPC主分类号 H01L21/336
权利人 北京智芯微电子科技有限公司
发明人 李君建; 吴波; 刘芳; 邓永峰; 王凯; 连亚军; 吴祖谋; 章明瑞; 董子斌
地址 北京市海淀区西小口路66号中关村东升科技园A区3号楼

专利主权项内容

1.一种半导体结构的制造方法,其特征在于,包括:在衬底中形成深阱区域;形成浅隔离槽,用于在所述深阱区域中隔离出有源区;在所述有源区中执行离子注入,形成第一掺杂区、第二掺杂区、第三掺杂区,所述第一掺杂区的注入离子与所述第二掺杂区的注入离子具有相同的导电类型,与所述第三掺杂区的离子具有不同的导电类型,所述第一掺杂区位于所述第二掺杂区下方,并且具有比所述第二掺杂区更大的宽度;在有源区中进行高浓度掺杂定义欧姆接触区域和肖特基区域;在所述欧姆接触区域和所述肖特基区域上形成合金层,所述合金层与所述欧姆接触区域和所述肖特基区域形成接触孔区域。。关注公众号马 克 数 据 网