一种雷达目标模拟方法及系统
摘要文本
本发明涉及电磁场与微波技术领域,目的在于提供一种雷达目标模拟方法及系统,模拟方法包括:S1、接收模拟信号后,将被模拟目标置于暗室中,在暗室中对被模拟目标进行圆周SAR成像,得到高分辨二维像;S2、对高分辨二维像进行散射中心提取,得到散射中心的位置与幅度;S3、根据散射中心的位置,设置龙伯透镜反射器阵列;S4、根据散射中心的幅度,调整龙伯透镜反射器阵列上各反射面的位置,得到模拟目标。通过调整龙伯透镜反射器阵列上各反射面的位置,可以根据散射中心的幅度优化反射波束的形状和大小,从而更准确地模拟目标的雷达反射特性;通过优化反射,可以得到更逼真的雷达回波图像,从而提高雷达目标模拟的逼真度。 马 克 数 据 网
申请人信息
- 申请人:北京理工大学
- 申请人地址:100081 北京市海淀区中关村南大街5号
- 发明人: 北京理工大学
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种雷达目标模拟方法及系统 |
| 专利类型 | 发明授权 |
| 申请号 | CN202410101795.9 |
| 申请日 | 2024/1/25 |
| 公告号 | CN117630830B |
| 公开日 | 2024/3/29 |
| IPC主分类号 | G01S7/38 |
| 权利人 | 北京理工大学 |
| 发明人 | 胡伟东; 乔石; 张凯旗; 檀桢; 许志浩; 蒋环宇; 刘庆国; 贾林海 |
| 地址 | 北京市海淀区中关村南大街5号 |
专利主权项内容
1.一种雷达目标模拟方法,其特征在于,包括以下步骤:S1、接收模拟信号后,将被模拟目标置于暗室中,在暗室中对被模拟目标进行圆周SAR成像,得到高分辨二维像;S2、对所述高分辨二维像进行散射中心提取,得到散射中心的位置与幅度;S3、根据所述散射中心的位置,设置龙伯透镜反射器阵列;S4、根据所述散射中心的幅度,调整龙伯透镜反射器阵列上各反射面的位置,得到模拟目标;其中在暗室中对被模拟目标进行圆周SAR成像之前,包括以下步骤:在暗室中创建固定坐标系、相对坐标系和雷达波束,所述固定坐标系的原点和相对坐标系的原点重合,雷达波束始终指向固定坐标系的原点;将所述被模拟目标放置于固定坐标系的原点;绕所述固定坐标系的原点旋转雷达波束,相对坐标系随雷达波束旋转;并且在暗室中对被模拟目标进行圆周SAR成像,得到高分辨二维像的具体步骤包括:假设被模拟目标的散射函数为,利用公式(1)计算回波函数,
; 利用公式(2),得到在远场测试,电磁波以平面波的形式传播时的回波函数,
;利用公式(3),消除测试系统对回波函数的影响,得到被模拟目标的回波函数,
;根据公式(3),得到被模拟目标的散射函数,
;利用卷积-逆投影算法对散射函数进行处理,得到高分辨二维像;其中,为被模拟目标的各散射中心在相对坐标系下的直角坐标;/>为被模拟目标的各散射中心在相对坐标系下的极坐标;/>为雷达波束发射点到固定坐标系原点的距离;/>为被模拟目标的各散射中心到雷达波束发射点的距离;/>为雷达波束绕固定坐标系原点旋转的角度。