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合成孔径雷达观测角度分析方法、装置、电子设备及介质
摘要文本
本发明提供一种合成孔径雷达观测角度分析方法、装置、电子设备及介质，涉及合成孔径雷达技术领域，可解决合成孔径雷达观测角度不准确和不密集的问题。该方法包括：从观测物体的初始合成孔径雷达图像集中，选取多个合成孔径雷达图像子集；计算每个合成孔径雷达图像子集的各向异性熵纹理特征角度值，各向异性熵纹理特征角度值用于表征观测物体的纹理特征；遍历全部各向异性熵纹理特征角度值，以获得至少一个最终观测角度；每当各向异性熵纹理特征角度值发生变化时，将当前各向异性熵纹理特征角度值所对应的特征代表图像的观测角度作为最终观测角度。该方法可以使合成孔径雷达密集准确地关注物体结构复杂的部分。
申请人信息
- 申请人:中国科学院空天信息创新研究院
- 申请人地址:100190 北京市海淀区北四环西路19号
- 发明人: 中国科学院空天信息创新研究院
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 合成孔径雷达观测角度分析方法、装置、电子设备及介质 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410091139.5 |
| 申请日 | 2024/1/23 |
| 公告号 | CN117630936A |
| 公开日 | 2024/3/1 |
| IPC主分类号 | G01S13/90 |
| 权利人 | 中国科学院空天信息创新研究院 |
| 发明人 | 卫世昕; 韩冰; 洪文; 胡玉新; 付琨; 段霁桐 |
| 地址 | 北京市海淀区北四环西路19号 |
专利主权项内容
1.一种合成孔径雷达观测角度分析方法，其特征在于，包括：从观测物体的初始合成孔径雷达图像集中，选取多个合成孔径雷达图像子集，每个所述合成孔径雷达图像子集中包含多个合成孔径雷达图像，所述合成孔径雷达图像子集中观测角度最小的合成孔径雷达图像为所述合成孔径雷达图像子集的特征代表图像；计算每个所述合成孔径雷达图像子集的各向异性熵纹理特征角度值；遍历全部所述合成孔径雷达图像子集所对应的所述各向异性熵纹理特征角度值，以获得至少一个最终观测角度；其中，在当前各向异性熵纹理特征角度值与前一个各向异性熵纹理特征角度值不同时，将所述各向异性熵纹理特征角度值所对应的所述合成孔径雷达图像子集所对应的特征代表图像的观测角度作为所述最终观测角度。