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一种多光路光束指向测试系统及方法
摘要文本
本发明涉及光照设备技术领域,特别涉及一种多光路光束指向测试系统及方法。该系统包括:控制器以及沿光路行进方向依次设置的多个光源、多个呈扇形排列的平行光管、一个匀光板、一个光学单元、一个光学探测器;每个光源均位于一个平行光管的入光侧;匀光板设置于平行光束的交汇处,用于接收平行光管发出的平行光束并形成照明光斑;光学单元将照明光斑成像在光学探测器上;控制器与光学探测器电连接,光学探测器对照明光斑进行光电转换,得到照明光斑的图像信息,并将图像信息发送给控制器;控制器对图像信息进行计算,得到照明光斑的位置偏差。装调人员根据位置偏差调整平行光管。本发明可以提供高精度的测量结果,同时有效提高光管装调效率。。
申请人信息
- 申请人:北京控制工程研究所
- 申请人地址:100080 北京市海淀区中关村南三街16号
- 发明人: 北京控制工程研究所
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种多光路光束指向测试系统及方法 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410034906.9 |
| 申请日 | 2024/1/9 |
| 公告号 | CN117825008A |
| 公开日 | 2024/4/5 |
| IPC主分类号 | G01M11/02 |
| 权利人 | 北京控制工程研究所 |
| 发明人 | 梁士通; 王立; 钟红军; 赵春晖; 余成武; 钟俊; 吴奋陟; 陈建峰; 王龙; 胡彦旭; 李凯 |
| 地址 | 北京市海淀区中关村南三街16号 |
专利主权项内容
1.一种多光路光束指向测试系统,其特征在于,包括控制器以及沿光路行进方向依次设置的多个光源、多个呈扇形排列的平行光管、一个匀光板、一个光学单元、一个光学探测器,其中:每个所述光源均位于一个所述平行光管的入光侧,所述光源用于为所述平行光管提供照明,以使所述平行光管发出平行光束;所述匀光板设置于所述平行光束的交汇处,所述匀光板的尺寸不小于所述平行光束的尺寸,所述匀光板用于接收每个所述平行光管发出的平行光束并在所述匀光板上形成照明光斑;所述光学单元用于将所述照明光斑成像在所述光学探测器上;所述控制器与所述光学探测器电连接,所述光学探测器用于对所述照明光斑进行光电转换,得到所述照明光斑的图像信息,并将所述图像信息发送给所述控制器;所述控制器用于对所述图像信息进行计算,得到所述照明光斑的位置偏差。