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一种角位移测量装置及方法
摘要文本
本发明涉及传感测量技术领域，特别涉及一种角位移测量装置及方法。该装置包括：一个电机转子、一个编码盘、一个电机定子和六个读数器，编码盘设置于电机转子上，六个读数器均设置于电机定子上；编码盘的柱面上设置有多个一维编码光栅和多个二维编码图案，每个一维编码光栅均用于记载编码盘的精密角度信息，每个二维编码图案均用于记载编码盘的粗略角度信息；六个读数器均按照预设的角度间隔非均匀地分布在编码盘的周身，每个读数器的探头均由高倍显微物镜和多行探测器组成，读数器用于解析一维编码光栅和二维编码图案，以得到编码盘实时的角度信息，角度信息包括角度位置和角度值。本方案能够有效提升角位移的测量精度。
申请人信息
- 申请人:北京控制工程研究所
- 申请人地址:100080 北京市海淀区中关村南三街16号
- 发明人: 北京控制工程研究所
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种角位移测量装置及方法 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410034283.5 |
| 申请日 | 2024/1/9 |
| 公告号 | CN117824538A |
| 公开日 | 2024/4/5 |
| IPC主分类号 | G01B11/26 |
| 权利人 | 北京控制工程研究所 |
| 发明人 | 梁士通; 王立; 盖芳钦; 左富昌; 邓楼楼; 李春艳; 洪帅; 祝浩; 严斯畅 |
| 地址 | 北京市海淀区中关村南三街16号 |
专利主权项内容
1.一种角位移测量装置，其特征在于，包括一个电机转子、一个编码盘、一个电机定子和六个读数器，其中：所述编码盘设置于所述电机转子上，六个所述读数器均设置于所述电机定子上；所述编码盘的柱面上设置有多个一维编码光栅和多个二维编码图案，每个所述一维编码光栅和每个所述二维编码图案均设置于所述读数器的观测范围内，每个所述一维编码光栅均用于记载所述编码盘的精密角度信息，每个所述二维编码图案均用于记载所述编码盘的粗略角度信息；六个所述读数器均按照预设的角度间隔非均匀地分布在所述编码盘的周身，每个所述读数器的探头均由高倍显微物镜和多行探测器组成，所述读数器用于解析所述一维编码光栅和所述二维编码图案，以得到所述编码盘实时的角度信息，所述角度信息包括角度位置和角度值。。关注公众号马 克 数 据 网