叶面积指数测量方法、装置、系统、电子设备及存储介质
摘要文本
本发明提供一种叶面积指数测量方法、装置、系统、电子设备及存储介质,涉及电数字数据处理技术领域,该方法包括:在确定本次测量任务对应的目标数据中任一目标视场角区间对应的第一光辐射值或第二光辐射值存在异常的情况下,从本次测量任务对应的目标数据中剔除任一目标视场角区间对应的第一光辐射值和第二光辐射值,进而基于本次测量任务对应的目标数据中剩余的目标视场角区间对应的第一光辐射值和第二光辐射值,计算得到本次测量任务的叶面积指数测量结果,或者,确定本次测量任务执行失败。本发明提供的叶面积指数测量方法、装置、系统、电子设备及存储介质,能对测量仪器采集到的原始数据进行质量校验,从而能更准确地获取作物的叶面积指数。
申请人信息
- 申请人:中国科学院空天信息创新研究院
- 申请人地址:100094 北京市海淀区邓庄南路9号
- 发明人: 中国科学院空天信息创新研究院
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 叶面积指数测量方法、装置、系统、电子设备及存储介质 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410187329.7 |
| 申请日 | 2024/2/20 |
| 公告号 | CN117739871A |
| 公开日 | 2024/3/22 |
| IPC主分类号 | G01B11/28 |
| 权利人 | 中国科学院空天信息创新研究院 |
| 发明人 | 孙源; 刘晓迪; 顾行发; 杨健; 周翔 |
| 地址 | 北京市海淀区北四环西路19号 |
专利主权项内容
1.一种叶面积指数测量方法,其特征在于,包括:获取本次测量任务对应的目标数据,所述目标数据包括每一目标视场角区间对应的第一光辐射值和第二光辐射值,所述目标视场角区间对应的第一光辐射值为第一观察点在竖直向上方向上所述目标视场角区间对应区域内的光辐射值,所述目标视场角区间对应的第二光辐射值为第二观察点在竖直向上方向上所述目标视场角区间对应区域内的光辐射值,所述第一观察点位于目标作物的冠层上方,所述第二观察点位于所述目标作物的冠层下方;在确定所述本次测量任务对应的目标数据中任一目标视场角区间对应的第一光辐射值或第二光辐射值存在异常的情况下,从所述本次测量任务对应的目标数据中剔除所述任一目标视场角区间对应的第一光辐射值和第二光辐射值,进而基于所述本次测量任务对应的目标数据中剩余的目标视场角区间对应的第一光辐射值和第二光辐射值,计算得到所述目标作物剩余的目标视场角区间对应的叶面积指数,作为本次测量任务的叶面积指数测量结果,或者,在确定所述本次测量任务对应的目标数据中任一目标视场角区间对应的第一光辐射值或第二光辐射值存在异常的情况下,确定本次测量任务执行失败。