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一种支持双侧悬空实体检测的实体对齐系统及方法
摘要文本
本申请提供了一种支持双侧悬空实体检测的实体对齐系统及方法,所述系统包括:实体嵌入模块,用于引入邻域实体关系信息,基于图卷积思想采用代数方法生成实体嵌入向量;悬空实体检测模块,用于从统计分布角度出发将悬空实体检测转化为实体分类问题,采用3原则实现悬空实体识别,并删除实体集合中的悬空实体;和实体对齐模块,用于在删除悬空实体的基础上,从线性规划角度出发将实体对齐转换为指派问题进行实体的对齐。本申请的优势在于:本申请面向双侧知识图谱均存在悬空实体的场景进行实体集合的实体对齐,实验证明,本申请的技术方案领先于所有对比模型,具有高效性、可解释性和稳定性。
申请人信息
- 申请人:中国科学院国家空间科学中心
- 申请人地址:100190 北京市海淀区中关村南二条1号
- 发明人: 中国科学院国家空间科学中心
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种支持双侧悬空实体检测的实体对齐系统及方法 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410169248.4 |
| 申请日 | 2024/2/6 |
| 公告号 | CN117743602A |
| 公开日 | 2024/3/22 |
| IPC主分类号 | G06F16/36 |
| 权利人 | 中国科学院国家空间科学中心 |
| 发明人 | 杨甲森; 徐聪; 贾清玉; 尹中康; 智佳; 陈托; 高翔; 姚秀娟 |
| 地址 | 北京市海淀区中关村南二条1号 |
专利主权项内容
1.一种支持双侧悬空实体检测的实体对齐系统,其特征在于,所述系统包括:实体嵌入模块,用于引入邻域实体关系信息,基于图卷积思想采用代数方法生成实体嵌入向量;悬空实体检测模块,用于从统计分布角度出发将悬空实体检测转化为实体分类问题,采用3原则实现悬空实体识别,并删除实体集合中的悬空实体;和实体对齐模块,用于在删除悬空实体的基础上,从线性规划角度出发将实体对齐转换为指派问题进行实体的对齐。