基于脉冲方波激励的超分辨磁粒子成像方法及系统
摘要文本
本发明属于生物医学成像技术领域,具体涉及一种基于脉冲方波激励的超分辨磁粒子成像方法及系统,旨在解决现有的脉冲磁粒子成像的分辨率依然较低的问题。本方法包括:组成单像素超分辨系统矩阵;采集待成像对象的磁粒子信号,作为第一信号;对第一信号校正并截取校正后的第一信号的波形的上升段和持平段的磁粒子信号,作为第二信号;将第二信号对时间积分,按聚焦场的磁场自由点位置进行网格填充,得到初步重建图像;获取初步重建图像的一个非零像素并截取非零像素对应信号的持平段,作为第三信号;结合单像素超分辨系统矩阵将第三信号分解为不同偏置场下的粒子信号,进而得到超分辨的磁粒子重建图像。本发明提升了现有的脉冲磁粒子成像的分辨率。 来源:百度马 克 数据网
申请人信息
- 申请人:中国科学院自动化研究所
- 申请人地址:100190 北京市海淀区中关村东路95号
- 发明人: 中国科学院自动化研究所
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 基于脉冲方波激励的超分辨磁粒子成像方法及系统 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410218006.X |
| 申请日 | 2024/2/28 |
| 公告号 | CN117788630A |
| 公开日 | 2024/3/29 |
| IPC主分类号 | G06T11/00 |
| 权利人 | 中国科学院自动化研究所 |
| 发明人 | 田捷; 李蕾; 冯欣; 刘晏君 |
| 地址 | 北京市海淀区中关村东路95号 |
专利主权项内容
1.一种基于脉冲方波激励的超分辨磁粒子成像方法,应用于磁粒子成像设备;所述磁粒子成像设备包括梯度磁场、带偏置脉冲激励磁场、聚焦场;其特征在于,该方法包括:S100,关闭所述梯度磁场,打开所述带偏置脉冲激励磁场并设置波形;在所述带偏置脉冲激励磁场的直流偏置场的设定峰值范围内采集单位含量的磁纳米粒子的时域信号;将所述时域信号进行校正,截取校正后的时域信号的波形的持平段并按列组成单像素超分辨系统矩阵;S200,打开所述梯度磁场并设置梯度范围,关闭所述带偏置脉冲激励磁场的偏置磁场,打开所述聚焦场并设置相应参数;设置后,采集待成像对象的磁粒子信号,作为第一信号;所述相应参数包括幅值、频率;S300,对所述第一信号校正并截取校正后的第一信号的波形的上升段和持平段的磁粒子信号,作为第二信号;将所述第二信号对时间积分,并按所述聚焦场的磁场自由点位置进行网格填充,得到初步重建图像;S400,获取所述初步重建图像中的一个非零像素并截取所述非零像素对应信号的持平段,作为第三信号;结合所述单像素超分辨系统矩阵将所述第三信号分解为不同偏置场下的粒子信号;保留分解后偏置为0的粒子信号,舍弃其它偏置的粒子信号,将所述偏置为0的粒子信号进行时间域积分,作为新的像素值,替换所述初步重建图像的像素值;S500,重复S400,直至所述初步重建图像中所有的非零像素均完成了分解与替换,进而得到超分辨的磁粒子重建图像。