← 返回列表
线扫共聚焦扫描光场显微成像装置及方法
摘要文本
本申请涉及显微成像技术领域,特别涉及一种线扫共聚焦扫描光场显微成像装置及方法,包括:显微镜的载物台上放置有目标生物样本;激发光路用于输出激发目标生物样本荧光的线状光源;线扫硬件光路用于多维扫描线状光源得到扫描光场图像;微透镜阵列用于线状光源的光场调制得到线状光场;相机用于根据线状光场进行三维成像得到三维图像;控制系统用于控制线扫硬件光路和相机执行线扫共聚焦动作,使得同一时刻同时曝光的像素行数与线状光源照明的样本区域一致,以分离目标生物样本的样本荧光信号和背景荧光信号,并根据扫描光场图像和三维图像生成目标生物样本的背景荧光去除的三维显微图像。由此,解决了扫描光场显微系统存在的背景荧光等问题。
申请人信息
- 申请人:清华大学
- 申请人地址:100084 北京市海淀区清华园1号
- 发明人: 清华大学
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 线扫共聚焦扫描光场显微成像装置及方法 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410073855.0 |
| 申请日 | 2024/1/18 |
| 公告号 | CN117631249A |
| 公开日 | 2024/3/1 |
| IPC主分类号 | G02B21/00 |
| 权利人 | 清华大学 |
| 发明人 | 戴琼海; 卢志; 吴嘉敏 |
| 地址 | 北京市海淀区清华园 |
专利主权项内容
1.一种线扫共聚焦扫描光场显微成像装置,其特征在于,包括:显微镜,所述显微镜的载物台上放置有目标生物样本;激发光路,用于输出激发所述目标生物样本荧光的线状光源;线扫硬件光路,用于多维扫描所述线状光源得到扫描光场图像;微透镜阵列,用于所述线状光源的光场调制得到线状光场;相机,用于根据所述线状光场进行三维成像得到三维图像;控制系统,用于控制所述线扫硬件光路和所述相机执行线扫共聚焦动作,使得同一时刻同时曝光的像素行数与所述线状光源照明的样本区域一致,以分离所述目标生物样本的样本荧光信号和背景荧光信号,并根据所述扫描光场图像和所述三维图像生成所述目标生物样本的背景荧光去除的三维显微图像。