总线的超时检测电路、方法、芯片及电子设备
摘要文本
本发明提供了总线的超时检测电路、方法、芯片及电子设备,当目标总线上出现操作请求时,将状态存储区中状态标志为无效的状态存储单元作为当前状态存储单元,将其状态标志修改为有效,将其序号作为当前序号;将当前ID写入当前序号的ID存储单元;从时间计数器读取当前的计数值,写入当前序号的计数存储单元;从ID存储区统计当前ID出现的总次数,将总次数写入当前序号的顺序存储单元;从时间计数器读取检测时刻的计数值,从顺序存储区读取次数值为1所对应的所有序号作为目标序号,并计算目标序号的计数存储单元中的计数值与检测时刻的计数值之间的计数变化量,将计数变化量大于计数阈值的目标序号对应的操作请求判定为超时。
申请人信息
- 申请人:北京凯芯微科技有限公司
- 申请人地址:100085 北京市海淀区上地东路1号院5号楼9层901
- 发明人: 北京凯芯微科技有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 总线的超时检测电路、方法、芯片及电子设备 |
| 专利类型 | 发明授权 |
| 申请号 | CN202410015533.0 |
| 申请日 | 2024/1/5 |
| 公告号 | CN117521570B |
| 公开日 | 2024/4/2 |
| IPC主分类号 | G06F30/33 |
| 权利人 | 北京凯芯微科技有限公司 |
| 发明人 | 请求不公布姓名 |
| 地址 | 北京市海淀区上地东路1号院5号楼9层901 |
专利主权项内容
1.一种总线的超时检测电路,包括记录存储器和超时检测器,其特征在于,还包括时间计数器;所述记录存储器包括具有相同序号的状态存储区、ID存储区、计数存储区和顺序存储区;所述状态存储区、ID存储区、计数存储区和顺序存储区包括K个具有各自序号的状态存储单元、ID存储单元、计数存储单元和顺序存储单元;其中,K为大于1的整数;所述时间计数器在时钟驱动下持续产生计数值;当目标总线上出现操作请求时,执行如下操作:将所述状态存储区中状态标志为无效的状态存储单元作为当前状态存储单元,将所述当前状态存储单元的状态标志修改为有效,将所述当前状态存储单元的序号作为当前序号;从所述操作请求中获取当前ID,将所述当前ID写入所述当前序号的ID存储单元;从所述时间计数器读取当前的计数值,写入所述当前序号的计数存储单元;从所述ID存储区统计所述当前ID出现的总次数,将所述总次数写入所述当前序号的顺序存储单元;所述超时检测器按照设定频率执行如下操作:从所述时间计数器读取检测时刻的计数值,从所述顺序存储区读取次数值为1所对应的所有序号作为目标序号,并计算所述目标序号的计数存储单元中的计数值与检测时刻的计数值之间的计数变化量,将所述计数变化量大于计数阈值的目标序号对应的操作请求判定为超时。