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设备联合调试方法、装置、终端设备以及存储介质
摘要文本
本发明公开了一种设备联合调试方法、装置、终端设备以及存储介质,所述方法包括:响应于接收到的调试设备切换指令,根据所述调试设备切换指令确定待调试设备;根据所述待调试设备确定目标调试模式,并根据所述目标调试模式,控制预设的智能联合调试协议JTAG调试组件对所述待调试设备进行在线调试,其中,所述JTAG调试组件可同时兼容单片机MCU、可编译门阵列FPGA和数字信号处理器DSP。本发明实施例根据调试设备切换指令选择待调试设备,并根据目标调试模式使用智能联合调试协议JTAG对待调试设备进行在线调试,且同时兼容MCU、FPGA和DSP,减少了对应仿真器的数量,从而降低多处理器系统调试时设备的调试成本。
申请人信息
- 申请人:北京东远润兴科技有限公司
- 申请人地址:100000 北京市海淀区正福寺76号1幢1层1号
- 发明人: 北京东远润兴科技有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 设备联合调试方法、装置、终端设备以及存储介质 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410166686.5 |
| 申请日 | 2024/2/6 |
| 公告号 | CN117728899A |
| 公开日 | 2024/3/19 |
| IPC主分类号 | H04B17/00 |
| 权利人 | 北京东远润兴科技有限公司 |
| 发明人 | 毛立虎; 李幸 |
| 地址 | 北京市海淀区正福寺76号1幢1层1号 |
专利主权项内容
1.一种设备联合调试方法,其特征在于,所述设备联合调试方法包括以下步骤:响应于接收到的调试设备切换指令,根据所述调试设备切换指令确定待调试设备;根据所述待调试设备确定目标调试模式,并根据所述目标调试模式,控制预设的智能联合调试协议JTAG调试组件对所述待调试设备进行在线调试,其中,所述智能JTAG调试组件可同时兼容单片机MCU、可编译门阵列FPGA和数字信号处理器DSP。