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用于图纸测量的双图同屏控制方法及系统
摘要文本
本申请公开了用于图纸测量的双图同屏控制方法及系统，涉及图纸处理技术领域，所述方法包括：预处理通道对目标CAD图纸进行处理，得到目标CAD图纸预处理结果；基于预定网格划分方案依次对目标CAD图纸预处理结果中的第一CAD图像和第二CAD图像进行网格划分，得到第一网格集和第二网格集；在第二网格集中遍历得到第一网格的对应网格，记作第二网格，第一网格是第一网格集中任意一个网格；根据预定同屏对比方案对基于初始显示参数调整控制后的第一网格和第二网格进行对比分析，得到网格对比偏差；根据网格对比偏差得到目标CAD图纸的目标图纸测量结果。进而达成降低测量控制难度、操作便捷性好、测量效率高的技术效果。。数据由马 克 团 队整理
申请人信息
- 申请人:北京鸿鹄云图科技股份有限公司
- 申请人地址:100080 北京市海淀区东北旺西路8号院23号楼4层101
- 发明人: 北京鸿鹄云图科技股份有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 用于图纸测量的双图同屏控制方法及系统 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410134656.6 |
| 申请日 | 2024/1/31 |
| 公告号 | CN117831063A |
| 公开日 | 2024/4/5 |
| IPC主分类号 | G06V30/422 |
| 权利人 | 北京鸿鹄云图科技股份有限公司 |
| 发明人 | 何小敏; 郑俐; 贾若 |
| 地址 | 北京市海淀区东北旺西路8号院23号楼4层101 |
专利主权项内容
1.用于图纸测量的双图同屏控制方法，其特征在于，包括：通过预处理通道对目标CAD图纸进行处理，得到目标CAD图纸预处理结果；基于预定网格划分方案依次对所述目标CAD图纸预处理结果中的第一CAD图像和第二CAD图像进行网格划分，分别得到第一网格集和第二网格集；在所述第二网格集中遍历得到第一网格的对应网格，记作第二网格，其中，所述第一网格是指所述第一网格集中任意一个网格；根据预定同屏对比方案对基于初始显示参数调整控制后的所述第一网格和所述第二网格进行对比分析，得到网格对比偏差；根据所述网格对比偏差得到所述目标CAD图纸的目标图纸测量结果。