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一种隐形眼镜干片焦度检测方法及检测系统

申请号: CN202410240223.9
申请人: 平方和(北京)科技有限公司
申请日期: 2024/3/4

摘要文本

本发明涉及一种隐形眼镜干片焦度检测方法及检测系统 : 包括依次从下至上沿同一轴线间隔放置参考物体照明单元、参考物体、隐形眼镜干片、工业成像单元;将所述工业成像单元与图像处理单元电连接;将所述图像处理单元与焦度计算单元电连接;开启所述参考物体照明单元,所述图像处理单元获得经所述工业成像单元采集的所述参照物体的成像;所述图像处理单元提取所述成像的特征参数,并将所述成像的特征参数发送至焦度计算单元;所述焦度计算单元根据焦度与成像特征参数之间的数学关系计算获得所述隐形眼镜干片焦度 : 通过上述设计,解决由于隐形眼镜湿片柔软易形变的特性,在焦度值测试时,耗费大量人工且人工放样不可避免会存在主观测量误差的问题。

专利详细信息

项目 内容
专利名称 一种隐形眼镜干片焦度检测方法及检测系统
专利类型 发明申请
申请号 CN202410240223.9
申请日 2024/3/4
公告号 CN117825010A
公开日 2024/4/5
IPC主分类号 G01M11/02
权利人 平方和(北京)科技有限公司
发明人 姜炜曼; 姚佳迪; 蔡仲伦; 刘学瑾
地址 北京市海淀区北清路81号一区1号楼11层1101室

专利主权项内容

1.一种隐形眼镜干片焦度检测方法,其特征在于,包括如下步骤:依次从下至上沿同一轴线间隔放置参考物体照明单元、参考物体、隐形眼镜干片、工业成像单元;将所述工业成像单元与图像处理单元电连接;将所述图像处理单元与焦度计算单元电连接;开启所述参考物体照明单元,所述图像处理单元获得经所述工业成像单元采集的所述参照物体的成像;所述图像处理单元提取所述成像的特征参数,并将所述成像的特征参数发送至焦度计算单元;所述焦度计算单元根据成像的特征参数经计算获得所述隐形眼镜干片焦度。 来源:马 克 团 队